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GB／T 11345-2013焊缝无损检测超声波检测技术、检测等级和评定简介：

GB/T 11345-2013是中国国家标准，全称为《压力容器无损检测超声检测技术》。该标准规定了压力容器和相关设备焊缝的超声波检测技术、检测等级和评定方法。以下是该标准的一些主要内容概述：

1. 检测技术：标准规定了超声波检测的基本原理、仪器设备、检测方法、操作步骤和检测环境要求。检测包括了常规检测、焊缝内部缺陷检测、焊缝表面缺陷检测等。

2. 检测等级：根据焊缝的结构复杂性、重要性以及材质等因素，GB/T 11345-2013将检测等级划分为A级、B级和C级。A级适用于重要的压力容器和结构复杂、要求较高的焊缝；B级适用于一般压力容器和结构相对简单的焊缝；C级则适用于一般焊接件。

3. 评定：根据检测结果，标准规定了如何对焊缝的质量进行评定，包括缺陷的大小、位置、形状和性质等，以及如何评估其对承压设备安全性能的影响。

4. 报告与记录：标准要求对每一次检测过程和结果进行详细的记录，包括检测方法、仪器参数、缺陷描述和评定结果，并生成检测报告。

该标准的目的是为了保证压力容器和相关设备的安全性，确保焊缝的质量，预防和发现潜在的缺陷。

GB／T 11345-2013焊缝无损检测超声波检测技术、检测等级和评定部分内容预览：

图B.1串列检测基本原理

运动扫查整个厚感范围

固定位置,如时基线 8格 1:

用以下反射体设定灵敏度： 平行面：底面反射波形成V路径反射波； 平底孔：垂直扫查面《家用和类似用途电器的安全 多功能淋浴房的特殊要求 GB4706.100-2009》，在声轴交叉处； 横孔：在声轴交叉处且在检测区域边缘

用以下反射体设定灵敏度： 平行面：底面反射波形成V路径反射波； 平底孔：垂直扫查面，在声轴交叉处； 横孔：在声轴交叉处且在检测区域边缘，

用以下反射体设定灵敏度： 平行面：底面反射波形成V路径反射波； 平底孔：垂直扫查面，在声轴交叉处； 横孔：在声轴交叉处目在检测区域边缘

划分相等的检验区域以确保灵敏度不降低。检验区域高度的计算：检验区边缘的灵敏度与声轴交 艾处的灵敏度相比不低于6dB，见图B.2.

划分相等的检验区域以确保灵敏度不降低。检验区域高度的计算：检验区边缘的灵敏度与声轴交 的灵敏度相比不低于6dB，见图B.2，

检测区域高度（t.)可用参考试块上不同深度反射体来测定，或用接近对面最大声程结合声束有效 直经屯计筒

式中： D 晶片有效直径。 检测区域数量按下式计算：

GB/T 113452013

本附录给山了超卢检测仪器和探头的常用技术参数，这些技术参数出制造商提供。如果制造商与 客户同意，可删减和/或增加本附录给出的技术参数内容

C.1.1一般持性参数包括

C.1.3发射器的特性参数包括

放大器与衰减器的特性参

a）校准衰减器的特性（义称为“增益控制”），如dB范围、步进、精度； b）未校准可变增益（例dB范围)的特性；

GB/T 113452013

C 与屏幕刻度相关的垂直线性： d） 每个额带设置（给出误差值)的中心颠率及带宽（在一3dB点之间），衰减器设置的影响； C） 发射脉冲后的育区，包括脉冲强度、阻尼、衰减器/增益控制和频带设置的影响； 所有频率设置时的输人等效噪声（微伏）； 名） 在所有规定频率范围内屏幕高度10%的最小输人电压； h) 在所有规定频率范围内超声仪器的动态范围； 1） 在规定题率范围内超声仪器的等效输人阻抗； 距离幅度校准功能包括：动态范围、最大校准斜率（分贝/微秒）、校准形式、DAC控制的影响。 C.1.5 数字超声仪器除上述以外还包括： a) 数模转换； b） A型显示的像素数量； 数据输出及存贮设备； 打印输出； e 校准存贮设备； f）显示与存取设备； g）自动校准； h）显示器的类型及其响应时间。 必要时，还包括使用的采样率、采样率和响应时间对脉冲重复频率显示范围的影响、显示数据处理 的数学原理、安装软件的版本

D.1纵向曲面磨弧探头

GB/T 113452013

探头的人射角度（α)可从已测量的声束折射角（α）与一条线之间来计算，一条线可从探头人射点 与平行于人射声束来得到.并将线在探头一侧做记号，如图D.1所示

人射角度可从下式来得出！

人射角度可从下式来得出！

图D.1纵向曲面磨弧探头入射点变化的测定

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cd 探头斜楔纵波声速（通常有机玻璃纵波声速为2730m/s)； 被检工件横波声速（一般钢横波声速为3255m/s±15m/s）。 修整后的探头人射点将会沿着标记线移动，并且它的新位置可以用手工方法直接在探头外壳上测 定，如图D.1所示。 探头折射角可通过满足要求的横孔最大回波来测定，也可在工件、参考试块或者是在比例图纸上直 接测定，如图D.2所示。 或者折射角可以用手工方法在参考试块上测量的声程长度来计算出来，使用下式来计算

探头斜楔纵波声速（通常有机玻璃纵波声速为2730m/s)； C： 被检工件横波声速（一般钢横波声速为3255m/s±15m/s）。 修整后的探头人射点将会沿着标记线移动，并且它的新位置可以用手工方法直接在探头外壳上测 定，如图D.1所示。 探头折射角可通过满足要求的横孔最大回波来测定，也可在工件、参考试块或者是在比例图纸上直 接测定，如图D.2所示。 或者折射角可以用手工方法在参考试块上测量的声程长度来计算出来，使用下式来计算

图D.2巾小意了方程式中各符号的含义。 校准所用表面的曲率半径与被检工件相比，误差应控制在十10%之内。

D.2横向曲面磨弧探头

图D.2纵向磨弧探头折射角α的测定

横向曲而磨弧探头修整后，探头入射点位置的变化量（△z）如图D.3所示， Ai=gtan(a) 有机玻璃斜模（ca=2730m/s），非合金钢被检件（c：3255m/s），探头人射点位置的变化量 公元）三个最堂用的声本台度和格正深成（ 证从图D4中读

图D.3横向曲面磨弧探头入射点变化的测定

修整时不能改变声束角度。如果声束角度变化是未知的，或者修正深度沿着探头长度的有任何变 化时，应在一块合适的修整后的参考试块上利用横孔来测定。声束角度由以下决定： a）在比例图纸上，在横孔与探头人射点之间画一条直线：或者 b）按图D.5所建立的方式来进行计算。

D.3折射角变化规律

D.3折射角变化规律

图D.4探头入射点的变化量A.x.有机玻璃中的延迟路径

5横孔测定声束折射角腐

D.4当从外圆面扫查时的

图D.6曲面工件声实际折射角度变化诺模图

图D.7从外圆面扫查时的全跨距声程距离

GB/T 113452013

D.5当从内圆面扫查时的声束路径

D.5当从内圆面扫查时的声束路径

图D.8从外圆面扫查时的半跨距声程距离

图D.9从内圆面扫查时的全跨距声程距离

图D.10从内圆面扫查时的半跨距声程距离

（规范性附录） 时基线和灵敏度设定

使用脉冲波技术，应在示波屏[设置超声时基线。一束透射声束的声程距离、深度、水丫距离、或者 扣除前沿的水平距离的坐标，见图E.1。除非另有注明，下述所提及设定时基线工艺是指声束传播的声 程距离（一个回波等丁两次的传播路径）

图E.1声束坐标示意图

时基线的设定应使用两个已知时间或距离的参考回波进行。根据预定的校准值，能得知各自的卢 程，深度，水平距离，或者扣除前沿的水平距离，该技术能够确保通过延时块（如探义契块）的声束传播 自动校准。假设参考试块声速可知，在该情况下设备的电子时基线通过·个回波就可以校准，在时基 线范围内的两参考回波之间距离可等同于实际距离。运用时基线扫描控制旋钮将最高回波的波的前沿 对应于屏幕上预定的水平刻度值。准确的校准可用一个检查信号来验证，检查信号不一定与之前校准 设置的信号显示在示波屏的同一位暨，但能显示在示波屏适当的位置

E.2参考试块和参考反射

号校准试块。只要已知参考试块或被检工件本身的探测面至反射体的声程距离就可以用其来校准时基 线。参考试块与被检工件的声速误差应在士5%之内.否则应进行修正，

E.3.1单反射体调节

参考试块的厚度不得超过时基线设定范围，可从1号校准试块厚度为25mm或100mm处得到 合适的底面回波，或从2号校准试块的12.5mm处得到，也可选择已知厚度的被检工件，试块与工件 3

应有相同的平表面或曲面，且试块与工件的声速应相同，

E:3.2 多反射体调范

要求参考试块（或组介试块）应有不同声程的两个反射体（如横孔）。重复地不断移动探头位置找到 每个反射体各自的最高回波；再通过调节时基线扫描控制旋钮将相邻两个反射体的回波设置到准确的 位置来进行时基线校准。

E.4.1试块圆弧面调节

1号校准试块或2号校准试块的圆弧面来设定时基线

E.4.2纵波探头调节转换

横波探头时基线可道过纵波探头在1号校准试块的91mm厚度处设置，相对于在钢中50mm的 黄波声程。完成时基线设定之后，通过检测时所用的探头和已知声程距离的反射体，仪用零点校准旋钮 就可以来进行时基线的设置

E.4.3参考试块调节

这与E.3.2中针对探头的调节原理相似。 然而要达到足够精确，就必须找到最高回波，在试块表面标出声束人射点，然后用于1方法测量反 射体与相应的标记之间的距离。对所有后面的时

E.5斜探头时基线的设置

E5.1中阐述的时基线设置的原理在这里仍适用，但深度和水平距离不再是线性的。非线性标度比 例的建立，可在声程距离比例图上通过 一系列的位置来绘出，或由适当的公式计算出，或可从曲面试块 上得到一系列反射体的最高回波来确定标度，中间值可通过插值法获得，见图E.2。

图E.2反射体回波位置的水平距离（去除前沿长度）和深度的时基线

.6灵敏度设定和回波高虑

寸体回波位置的水平距离（去除前沿长度）和深

当利用斜探头二次波（例如：在半跨距之后）探测曲面工件时冀J09J116建筑抗裂硅质刚性防水构造，由底而引起的人射角度的变化（例如 角度影响)应予以考患。当探头在外圆面对筒体型工件进行扫查时，出于内表面是曲面，经内表面反射 之后将使声束角度变人。反之，当探头在内圆面进行扫查时，由于外表面是曲面的原因，经外表面反射 之后将使声束角度变小

E.6.3距离波幅曲线（DAC)技术

GB/T 113452013

应大于被检工件的高度。表E.1详细给出间距、试块最小尺寸和反射体的具体要求 对不同回波波高的评价，按以下要求执行： 如果回波波高通过增加XdB到达参考线时.回波波高记录为（参考水平一X)dB。如果回波波高通 过降低YdB到达参考线时，回波波高记录为（参考水平+Y）dB

应大于被检工件的高度。表E.1详细给出间距、试块最小尺寸和反射体的具体要求， 对不同回波波高的评价，按以下要求执行： 如果回波波高通过增加XdB到达参考线时.回波波高记录为（参考水平一X)dB。如果回波波高通 过降低YdB到达参考线时.回波波高记录为（参考水平+Y）dB

DB11／T 948.1-2013标准下载表E.1技术1参考试块和参考反射体