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CNAS-CL01-A006:2021 检测和校准实验室能力认可准则在无损检测领域的应用说明.pdf简介:
CNAS-CL01-A006:2021,全称为中国合格评定国家认可委员会(CNAS)的检测和校准实验室能力认可准则在无损检测领域的应用说明。这项标准是针对无损检测实验室制定的,旨在确保这些实验室的检测和校准服务能够达到国际认可的标准,提供可靠、一致和公正的检测结果。
无损检测(NDT)是一种不破坏被检测对象的完整性就能对其内部或表面结构、性质进行检查的技术。CNAS-CL01-A006的应用说明详细规定了无损检测实验室应具备的能力,包括但不限于:
1. 人员资质:实验室人员需具备相应的专业知识和技能,如持有相关的专业证书,接受过定期培训和教育。
2. 设备和设施:实验室需配备符合国际标准的无损检测设备,并有适当的环境条件以保证检测的准确性。
3. 方法和程序:实验室需要使用和执行经过验证的无损检测方法,并有完善的质量控制程序以确保结果的可靠性。
4. 记录和报告:实验室需要记录所有检测活动,包括检测参数、结果和任何异常情况,并出具清晰、详细的报告。
5. 内部审核和管理:实验室需要定期进行自我评估,以确保其持续符合认可要求。
通过遵循CNAS-CL01-A006,无损检测实验室能够提升其服务质量,增加客户信心,同时也符合国际认可的权威要求,有利于其在行业内的竞争力。
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2021年12月31日发布
2022年6月30日实施
检测和校准实验室能力认可准则在
无损检测领域的应用说明
DB22/T 3241-2021 国土空间规划数据服务技术规范.pdf5.5a)实验室工作岗位的设置应考虑到本领域实验室申请检测项目的范围、复杂 和检测频次。
5.2.2从事特定行业(如航空、电力、船舶、特种设备等)的无损检测工作时,应按 照这些行业的法律、行政法规或标准要求,获得该行业认可的无损检测人员资格证。 对授权签字人、检测工作人员和监督人员的任职要求如下: (1)授权签字人: 授权签字人对射线、超声、磁粉、渗透等常规检测项目负责,其资格应分别满足
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该专业II级人员的资格; 授权签字人对X射线数字成像技术(DR)、计算机射线照相技术(CR)、计算机 层析成像技术(CT)的检测项目负责,其资格应分别满足DR、CR、CT专业III级人员的 资格,或者具有射线检测III级、同时分别具有DR、CR、CT专业的II级人员资格; 授权签字人对相控阵超声技术(PAUT)、衍射时差法超声技术(TOFD)的检测项 目负责,其资格应分别满足PAUT、TOFD专业III级人员的资格,或者具有超声检测III级, 同时分别具有PAUT、TOFD专业的I级人员资格; 授权签字人对涡流、声发射检测项目负责,其资格应分别满足该专业Ⅲ级人员的 资格,或满足该专业无损检测II级人员的资格(不少于4年); 授权签字人仅对其他无损检测中某一项目(如目视、泄漏、漏磁、红外、激光散 斑等)负责,其资格应满足该项无损检测II级人员的资格(不少于4年); 授权签学人对多项无损检测总报告负责,该授权签学人必须同时满足上述人员资 格要求。 (2)检测工作人员: 持有所从事无损检测专业的资格证书,且其执行的工作职责与其持有资格证书 级别的能力要求相适应。资格证书区分工业类或技术时,其从事的工作范围还应与 证书中的工业门类或技术相适应。 对于采用直接读数式仪器实施检测的项目,如超声测厚、电磁涡流测厚等,授权 签字人、检测人员及监督人员应接受适当的培训,任职要求不受无损检测资格证书限 制。 (3)监督人员: 应具有质量管理体系知识;应具有无损检测技术的专门知识和经验;应具有所负 责监督的无损检测专业的II级及以上人员的资格;应具有有关材料性能、检测过程和 工作环境要求的知识;应具有处理分析有关无损检测数据和结果的经验和能力;应具 有应用有关标准检测的经验和依据相关标准编制作业指导书的能力;应具有编制/出 具最终检测报告的能力;应具有保质完成无损检测工作的能力。 监督人进行授权
6.3.1从事射线检测(含DR、CR、CT)的实验室应取得当地环境保护部门颁发的辐 时安全许可证,检测工作人员在检测过程中应佩戴个人剂量计。在生产车间、实验室 内进行射线检测的,应具备满足放射线卫生防护要求的曝光室。在安装工地、使用现 场进行X射线或射线检测时,应分别按照GBZ117《工业X射线探伤放射防护要 求》或GBZ132《工业射线探伤放射卫生防护标准》的规定划分控制区和监督区, 设置警告标志,并配备剂量报警仪
6.4.3实验室配置射线探伤源的,应具有射线探伤源处置、运输、存放和使
室配置射线探伤源的,应具有射线探伤源处置、运输、存放和使用
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的安全管理制度,管理制度应持续有效。 6.4.4无损检测仪器设备投入服务前,应进行校准或核查;每次检测前,应进行核查 或校验,以验证其能满足实验室规范的要求以及符合有关检测标准的要求。校准或核 查要求执行附录A《无损检测仪器设备校准或核查要求》(规范性附录),行业有相 关要求的执行其校准或核查要求。
6.6外部提供的产品和服务
7.1要求、标书和合同评审
7.2方法的选择、验证和确认 7.2.1.3实验室应根据本单位申请检测的产品,依据申请认可的检测标准,编制无损 检测工艺文件。无损检测工艺文件通常包括工艺规程和操作指导书,
7.4检测或校准物品的处置
7.6测量不确定度的评定
7.6.3开展无损检测的实验室应评定测量不确定度,特别是对于直接提供定量数据的 检测项目,如缺陷尺寸测量、超声测厚、电导率测量、CT结构尺寸测量等,
7.7.2实验室参加的无损检测能力验证项目应代表其所申请认可的方法。当没有适 的能力验证计划时,应进行实验室间比对。
1.1检测结果的编制与审核应由不同人员
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8.1方式 8.2管理体系文件(方式A) 8.3管理体系文件的控制(方式A) 8.4记录控制(方式A) 8.5应对风险和机遇的措施(方式A) 8.6改进(方式A) 8.7纠正措施(方式A) 8.8内部审核(方式A) 8.9管理评审(方式A)
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附录A:(规范性附录)
A.1.1胶片射线照相
无损检测仪器设备校准或核查要求
A.1.1.1用于胶片射线照相的射线机均应制作曝光曲线,曝光曲线每年至少核查一 次;射线机更换重要部件或经较大修理后,应及时对曝光曲线进行核查或重新制作。 A.1.1.2黑度计(光学密度计)至少每6个月采用标准密度片进行核查,方法可参照 NB/T47013.2《承压设备无损检测第2部分射线检测》相关附录要求。 A.1.1.3标准密度片每2年应进行校准,方法可参照JJG452《黑白标准密度片检定 规程》。 A.1.1.4个人剂量测量(或报警)仪、辐射检测仪应定期进行检定或校准。个人剂量 计(监控累积剂量)应定期送有资质的机构进行监测。 A.1.1.5观片灯的亮度和均匀度应每年进行核查,以满足评片的要求。方法可参照 GB/T19802《无损检测工业射线观片灯最低要求》。 A.1.2X射线数字成像(DR) A.1.2.1X射线数字成像(DR)设备应定期对探测器基本空间分辨率、信噪比、对比 度灵敏度、厚度宽容度等性能进行核查,每年至少核查一次。方法可参考GB/T35394 《无损检测X射线数字成像检测系统特性》。在设备维修、升级或改造后,要及时 对设备性能进行核查。 A.1.2.2每次检测前应使用标准器具(如双线型像质计等)对检测软件中的尺寸测量 功能进行核查。 A.1.3计算机射线照相(CR) A.1.3.1计算机射线照相(CR)设备应定期对基本空间分辨率、信噪比、对比度灵敏 度等性能进行核查,每年至少核查一次。方法可参考GB/T21356《无损检测计算机 射线照相系统的长期稳定性与鉴定方法》。在设备维修、升级或改造后,要及时对设 备性能进行核查。 A.1.3.2每次检测前应使用标准器具(如双线型像质计等)对检测软件中的尺寸测量 功能进行核查; A.1.3.3定期使用CR成像板对扫描仪进行核查,核查周期可根据使用频率确定,维 修、升级或改造后的扫描仪应及时核查。 A.1.4计算机层析成像(CT) A.1.4.1计算机层析成像(CT)设备的性能由实验室根据各自设备的特点及使用情况 等定期进行核查,其中最大可检测等效钢厚度、空间分辨率、密度分辨率等性能核查 每年不少于一次,核查方法可参照GB/T37158《无损检测工业计算机层析成像(CT) 检测最大可检测钢厚度测试方法》、GB/T29069《无损检测工业计算机层析成像(CT)
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系统性能测试方法》或检测标准中要求的方法。在设备维修、升级或改造后,要及时 对设备性能进行核查。 A.1.4.2每次检测前,用对比试件(或参考标准)对缺陷检测能力、尺寸测量精度等 进行核查。 1.1.4.3对于直接影响定量检测结果或进行精度验证的标准试件(参考标准)投入使 用前应进行校准,如空间分辨率测试卡、密度分辨率测试卡、图像尺寸参考物体(如 哑铃)等。根据使用情况定期进行校准或核查,每年不少于一次。
A.2.1常规超声检测
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A.3.1电磁轭磁粉探伤机的提升力,至少每半年采用经校准的提升力重力试块进行核 查。永久磁铁的提升力,每次检测前应进行核查 1.3.2提升力重力试块,每2年采用经校准的称重器具进行核查 4.3.3磁粉检测设备的电流表,至少每半年进行核查或校准。 A.3.4黑光灯、黑光辐照度计、光照度计、磁场强度计、毫特斯拉计等,至少每年进 行核查或校准。 1.3.5设备内部短路检查、电流载荷、通电时间等,至少每年进行核查 1.3.6每次检测前,应采用灵敏度试片、参考试块对磁粉检测系统灵敏度进行核查。 1.3.7对于荧光磁粉检测,每次检测前,应采用黑光辐照度计对工件被检测表面的黑 花辐照度进行核查,采用光照度计对周围环境的可见光照度进行核查;对于非荧光磁 分检测,每次检测前,应采用光照度计对工件被检测表面的可见光照度进行核查
A.4.1黑光灯、黑光辐照度计、荧光亮度计和光照度计等,至少每年进行核查或校准。 A.4.2对于荧光渗透检测,每次检测前,应采用黑光辐照度计对工件被检测表面的黑 光辐照度进行核查,采用光照度计对周围环境的可见光照度进行核查;对于非荧光渗 透检测,每次检测前,应采用光照度计对工件被检测表面的可见光照度进行核查。 A.4.3每次检测前公路工程标准施工招标文件(2018 第一卷和第四卷).pdf,应采用参考试块对渗透检测系统灵敏度进行核查。 A.4.4用于控制渗透检测过程中温度、压力和时间的仪表,至少每年进行校准
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A.4.5对于重复使用的渗透检测材料,应定期核查其状态。
A.5.1电磁涡流测厚
A.5.1.1标准厚度片应每年校准,校准方法可参照JJG818《磁性、电涡流式覆层厚 度测量仪检定规程》。 1.5.1.2每次测量前应根据被测覆盖层的厚度选择适当厚度的膜片核查仪器在该测 量范围(高、低值)的准确度。
DB43T 1720.4-2019 多表集抄技术规范 第4部分:通信接口转换器技术.pdfA. 5. 2 涡流探伤