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JB/T 10033-2018 测微头简介:
"JB/T 10033-2018 测微头"是一个技术标准,由中国机械工业联合会发布,于2018年实施。这个标准主要规定了测微头的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和储存等内容。测微头在工业检测和精密测量中有着广泛应用,它是一种用于精密测量的工具,能够提供非常高的测量精度,常用于长度、角度等参数的精确测量。
简单来说,这个标准就是对测微头这种产品的设计、生产、检验等环节提出了具体的技术要求,以确保产品的质量,保证其在实际应用中的准确性和可靠性。如果你是从事机械制造、精密仪器等相关行业,或者需要使用到测微头,了解并遵循这个标准是非常重要的。
JB/T 10033-2018 测微头部分内容预览:
本标准规定了测微头的术语和定义、型式与基本参数、要求、检查条件、检查方法、标志与包装。 本标准适用于分度值为0.01mm、0.005mm、0.002mm、0.001mm、0.0005mm和0.0001mm, 测微螺杆的螺距为0.5mm、1mm,量程为6.5mm、13mm、15mm、25mm和50mm的标尺读数和数 字读数(不含电子数显)的测微头。
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T1216—2008外径千分尺 GB/T17163—2008 几何量测量器具术语 基本术语 GB/T171642008 几何量测量器具术语 产品术语 GB/T18779.1—2002 产品几何量技术规范(GPS) 工件与测量设备的测量检验 第1部份:按 规范检验合格或不合格的判定规则 GB/T24634一2009产品几何技术规范(GPS) GPS测量设备通用概念和要求
文件。 3.1 测微头micrometerhead 利用螺旋副原理DB61∕T 1175-2018 建筑垃圾再生材料公路应用设计规范,对测微螺杆的轴向移动量进行读数并备有安装部位的测量器具。 3.2 测微头的示值最大允许误差 maximumpermissiblemovingerrorofmicrometerhead MPE 测微头在量程范围内,示值误差所允许的误差极限值。 注:测微头示值误差极限值 用来限制误差绝对值
头的型式如图1图3所示。图示仅作图解说明,不
JB/T10033—2018
图1型测微头(标尺读数)
图2Ⅱ型测微头(数字读数)
图3Ⅲ型测微头(差动微调)
4.2.1测微头测微螺杆的直径宜为3.5mm、5mm、$6.5mm、$8mm。 4.2.2测微头的分度值应为0.01mm、0.005mm、0.002mm、0.001mm。Ⅲ型测微头(差动微调)的 分度值宜为0.0005mm、0.0001mm。 4.2.3计数器数字读数装置的量化步距应为0.001mm。 4.2.4测微头的测量面应为球面或平面。 4.2.5测微头可有旋进式和直进式等运动进给方式。 4.2.6测微头安装部位应为圆柱体,直径宜为:$6mm、$9.5mm、10mm、$12mm、$13mm,制造 公差为h6。
4.2.1测微头测微螺杆的直径宜为$3.5mm、5mm、$6.5mm、8mm。 4.2.2测微头的分度值应为0.01mm、0.005mm、0.002mm、0.001mm。IⅢ型测微头(差动微调)的 分度值宜为0.0005mm、0.0001mm。 4.2.3计数器数字读数装置的量化步距应为0.001mm。 4.2.4测微头的测量面应为球面或平面。 4.2.5测微头可有旋进式和直进式等运动进给方式。 4.2.6测微头安装部位应为圆柱体,直径宜为:$6mm、$9.5mm、Φ10mm、$12mm、$13mm,制造 公差为h6。
5.1.1测微头上不应有影响使用的锈蚀、碰伤、划痕、裂纹等缺陷。 5.1.2测微头的表面镀、涂层应均匀,无脱落现象。 5.1.3测微头的标尺标记不应有目力可见的断线、粗细不均及影响读数的其他缺陷。
5.1.1测微头上不应有影响使用的锈蚀、碰伤、划痕、裂纹等缺陷。
5.2.1测微头的量程宜为:6.5mm、13mm、15mm、25mm、50mm。 5.2.2测微头测微螺杆的移动应平稳、灵活,不应有卡滞现象。 5.2.3测微头的测微螺杆的轴向窜动量和径向间隙量不应大于0.01mm。 5.2.4当测微头具有调零装置时,其零位应能便于准确、可靠地调整。
JB/T100332018
5.2.1测微头的量程宜为:6.5mm、13mm、15mm、25mm、50mm。 5.2.2测微头测微螺杆的移动应平稳、灵活,不应有卡滞现象。 5.2.3测微头的测微螺杆的轴向窜动量和径向间隙量不应大于0.01mm。 5.2.4当测微头具有调零装置时,其零位应能便于准确、可靠地调整。
按GB/T1216—2018中5.2的规定
按GB/T1216—2018中5.2的规定。
按GB/T1216—2018中5.9的规定
按GB/T1216—2018中5.9的规定
5.5标尺标数及零位标尺标记重合度
5.5.1若无特殊要求,固定套管上应每隔5个标尺标记刻写一个标尺标数,并且标尺标数应与测微 的位移量相吻合。 5.5.2标尺模拟读数的测微头,其“零”标尺标记和尾标尺标记与微分筒上相应标尺标记的重合度 应大于表1的规定。
5.6.1测微头应具有测微螺旋副磨损后的调整装置,并配备有调整工具;测微头可按要求设置有测力 装置及零位调整装置。 5.6.2零位调整装置和测微螺旋副磨损后的调整装置,应能方便用户自已操作。 5.6.3移动计数器数字读数测微头的测微螺杆时,其计数器应按顺序进位、无错乱显示现象;除去尾 码,其他数字码的中心在不进位时应在平行于测微螺杆轴线的同一直线上。 5.6.4当测微头具有标尺模拟读数和计数器数字读数两种读数形式时,对“零”后,在量程内任意位 置上,计数器读数值与标尺模拟读数值的差值不应大于0.003mm。
5.6.1测微头应具有测微螺旋副磨损后的调整装置,并配备有调整工具;测微头可按要求设置有测 装置及零位调整装置。 5.6.2零位调整装置和测微螺旋副磨损后的调整装置,应能方便用户自已操作。 5.6.3移动计数器数字读数测微头的测微螺杆时,其计数器应按顺序进位、无错乱显示现象;除去 码,其他数字码的中心在不进位时应在平行于测微螺杆轴线的同一直线上。 5.6.4当测微头具有标尺模拟读数和计数器数字读数两种读数形式时,对“零”后,在量程内任意 置上,计数器读数值与标尺模拟读数值的差值不应大于0.003mm
JB/T100332018
JB/T100332018
10N,测量力的变化不应
5.8.1测微头的测量面为平面时,宜镶装硬质合金或其他耐磨材料。 5.8.2测量面为平面时的平面度误差不应大于0.6μm(在距测量面边缘0.4mm范围内不计)。 5.8.3平测量面对测微螺杆轴线的垂直度误差不应大于0.002mm。 5.8.4测微头测量面的硬度、表面粗糙度应符合表2的规定
表2硬度、表面粗糙度
5.9示值最大允许误差(MPE)
测微头的示值最大允许误差不应大于表3的规定。
测微头的示值最大允许误差不应大于表3的规定。
表3示值最大允许误差
程误差一般不作要求:当合同有要求时,测微头的回
检查前,被检测微头及其检验用工具在温度为(20土5)℃的环境中进行平衡温度, 间不应少于2h
查前,被检测微头及其检验用工具在温度为(20土5)℃的环境中进行平衡温度,其平衡温度时 少于2h。
目力观察,必要时借助放大镜观察。
目力观察,必要时借助放大镜观察
手感、目测及试验。如有异议,按GB/T1216一2018中6.4的规定
目测及借助放大镜、工具显微镜进行检查。
7.4标尺标数及零位标尺标记重合度
JB/T100332018
7.5.1零位调整装置及测微螺旋副磨损后的调整装置以目测和试验的方法进行检查。 7.5.2计数器数字读数装置的检查可采用目测和试验。可先对“零”后,以微分筒刻线为基准,抽检 量程内的3~5个位置,将微分筒刻线与固定套管上的轴向刻线对齐,读数字显示值。计数器读数值 标尺模拟读数值的差值不应大于0.003mm
.5.1零位调整装置及测微螺旋副磨损后的调整装置以目测和试验的方法进行检查。
测量力用分度值不大于0.2N、准确度等级为2.5级的专用测力仪或字盘秤借助专用装置进
7.7.1平测量面的平面度采用2级平面平晶进行检查。检查时应调整平面平晶,使被检测量面上的干 步带或干涉环的数目尽量少或使其产生封闭的干涉环。平面度误差与干涉带数目n间的关系式见公式 (1)。
式中: s——测量面的平面度误差GB∕T 38537-2020 纤维增强树脂基复合材料超声检测方法 C扫描法,单位为微米(um); n—干涉带或干涉环的数目; a——光波波长,约等于0.6μm。
n一干涉带或干涉环的数目; 入一光波波长,约等于0.6μm。 经公式(1)计算出的测量面平面度误差的数值不应大于规定值。 7.7.2检查平测量面对测微螺杆轴线的垂直度时,可将测微头固定在专用的V形块(架)上,用垂直 度检查仪在测量面上取不同的3或4个直径方位进行检查,取其中的最大值作为检查结果。或:采用自 准直类仪器进行检查,先调正专用V形块(架)的对称轴线与自准直类仪器光轴同轴,将测微头置于 V形块(架)上,由自准直类仪器读得偏差值,并经计算得出测量面垂直度误差。 也可采用满足不确定度要求的其他方法进行检查。 7.7.3检查测量面的硬度时,对于未镶装硬质合金或其他耐磨材料的测量面,可在距测量面2mm~ mm的外圆周上各取三个均布点,用维氏硬度计(或落氏硬度计)进行检查,取三点测得值的算术平 均值作为测量结果(可仅在生产过程中进行)。 对于镶装硬质合金或其他耐磨材料的测量面,其硬度可不做检查。
检查测微头的示值误差时,将被检 并在测微螺杆测量面中心对面处安装 一个具有球形测量面的临时固定测砧,使测微头测量面与临时固定测砧接触并校准零位,如本标准图。 所示。
JB/T100332018
图4示值误差检查示意图
然后【中卫市】《城市规划管理实施办法》(2005年),分别用尺寸符合本标准表4规定的 组量块进行检查(示值最大允许误差值小于或等于 .002mm的用3等或1级量块;示值最大允许误差值大于0.002mm的用4等或2级量块),以零标 志点作为固定零点,取测微头各受检点中的示值与相应量块尺寸之差值作为该受检点的示值误差,取 各受检点示值误差绘制误差曲线,取曲线中的最大正误差和最大负误差的绝对值之和为示值误差范围 (最大浮动零点误差),其值不应超过本标准表3的规定值。 测微头的合格或不合格判定应遵循GB/T18779.1一2002的规则