JC/T 2613-2021 钛宝石激光晶体.pdf

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JC/T 2613-2021 钛宝石激光晶体.pdf简介:

JC/T 2613-2021标准是中国建筑材料与制品协会制定的一项关于“钛宝石激光晶体”的技术标准。钛宝石(Ti:sapphire)是一种特殊的激光晶体,它主要是由钛(Titanium)和氧化铝(Al2O3)制成,其中掺杂了少量的铬(Chromium)。钛宝石激光晶体因其具有极高的光谱稳定性、高强度、宽带输出以及长脉冲等特点,被广泛应用于科学研究、光纤通信、医疗、材料处理等领域。

该标准可能涵盖了钛宝石激光晶体的制备方法、性能指标、测试方法、检验规则以及应用要求等,目的是为了规范钛宝石激光晶体的生产和使用,保证其质量和性能的稳定性,推动相关产业的技术进步。具体的内容需要查阅标准原文以获取详细信息。

JC/T 2613-2021 钛宝石激光晶体.pdf部分内容预览:

JC/T26132021

波长为633nm激光照射下,晶体元件光学不均匀性应不大于5×10/cm

GB∕T 15180-2000 重交通道路石油沥青4.1.3掺杂浓度不均匀性

登通光方向上的掺杂浓度不均匀性应符合表1的

晶体元件品质因数FOM值应不小于100。

晶体元件荧光寿命应不小于2.7us。

波长为532nm,脉宽为10ns的脉冲激光照射下,晶体元件光学表面损伤阅值应7

波长为532nm,脉宽为10ns的脉冲激光照射下,晶体元件光学表面损伤阀值应不小于10J/cm²

宽高长:Wa×H×L;W为晶体元件通光面的宽度,H为晶体元件通光面的高度,L为 晶体元件通光方向的长度。 椭圆度:圆形晶体元件椭圆度最大允许值应符合表2的规定,

4.2.2切割晶向角度偏差

晶体元件的切割晶向角度偏差应不大于士0.5°

晶体元件两个通光面的不平行度应不大于30”

条状晶体元件的通光面与侧面之间的不垂直度应不大于30'

最体元件倒角的宽度应不大于0.2mm,倒角的角度在

4.2.6有效通光孔径

晶体元件的有效通光孔径应不小于85%。

4. 2.7 透射波前畸变

m激光照射下,被测晶体元件的透射波前畸变应

4. 2. 8 表面症病

体元件有效通光孔径内表面症病应符合表3的

开裂、气泡、夹杂物等缺陷由肉眼或偏光显微镜观察;散射的测试方法按GB/T22453一2008的 规定。

5.1.2光学不均匀性

5.1.3掺杂浓度不均匀性

沿晶体元件通光方向上均匀地选取五个待测点,按GB/T15074一2008的规定测试这五个待测 浓度。晶体元件掺杂浓度不均匀性按公式(1)计算:

JC/T 26132021

Y一一晶体元件掺杂浓度不均匀性; Xmax—待测点掺杂浓度测试最大值,单位为重量百分率(wt.%)

5. 1. 4. 1吸收系数

按GB/T26798一2011的规定,调试好仪器,直接测试得到钛宝石晶体元件的波长吸收曲线, 取532nm和800nm吸收as32和a800。532nm和800nm吸收系数α按公式(2)计算:

晶体元件特定波长处的吸收系数,单位为每厘米(cm") 晶体元件特定波长处的吸收; 一晶体元件通光方向的长度,单位为厘米(cm)

5.1.4.2品质因数计算

晶体元件品质因数FOM值按公式(3)计算:

式中: FOM一一晶体元件品质因数;

5.1.5.1测试原理

FOM = ^s32 αg00

时间相关单光子计数法:在某一时间检测到发射光子的概率,与该时刻荧光强度成正比,令每一个 激发脉冲最多只得到一个荧光发射光子,记录该光子出现的时间,并在坐标上记录频次。经过大量累 计,构建出荧光发射光子在时间轴上的分布概率曲线(荧光衰减曲线)。

5. 1. 5. 2 测试仪器

时间分辨辩荧光光谱仪。

时间分辨荧光光谱仪。

5.1.5.3测试方法

开机预热约10min,将晶体元件放入样品池,选择532nm光源作为激发光源,由荧光光谱仪直接 测试得到荧光衰减曲线,获取晶体元件荧光寿命。

阅值的测试方法按GB/T16601.4—2017的规定

公差的测试方法按GB/T22453一2008的规定。

5.2.2切割晶向角度偏差

包角度偏差的测试方法按GB/T22453—2008的

5.2. 3 不平行度

不平行度的测试方法按GB/T22453—2008的

不垂直度的测试方法按GB/T22453一2008的规定。

5.2.6有效通光孔径

有效通光孔径的测试方法按GB/T22453一2008的规定。

5.2.7透射波前畸变

5. 2. 8 表面症病

《工业控制计算机系统功能模块模板第7部分:视频采集模块通用技术条件及评定方法 GBT 26804.7-2017》表面症病的测试方法按GB/T22453—2008的规

JC/T 2613—2021

出厂检验项目为4.1.1~4.1.5、4.2.1~4.2.8,见表4。全部晶体元件应经质检部门检验合格 出厂,不合格产品剔除。

6. 1.2 型式检验

2.1型式检验项目为第4章要求的全部项目,见表4。 2.2有下列情况之一,应进行型式试验: 新产品试制鉴定; b) 正式生产后JGJ342-2014《蒸发冷却制冷系统工程技术规程》.pdf,如原料、工艺有较大改变可能影响产品性能时: c) 正常生产时,每年进行一次; d)产品停产半年,恢复生产时; e) 出厂检验结果与上次型式检验的结果有较大差异时: f) 国家质量监督机构提出进行型式检验的要求时。

6.1.2.3抽样方法:

型式检验样品应在出厂检验合格品中随机抽取,抽取量不少于1%,且不低于2件;若仅有1 取该件。

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