GB/T 39560.301-2020 电子电气产品中某些物质的测定 第3-1部分:X射线荧光光谱法筛选铅、汞、镉、总铬和总溴.pdf

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人员也可以基于对所测材料的知识和经验来选择不同的安全系数。 e)表A.2给出了基于样品限值和给定安全系数的筛选方案。

表A2不同基体材料中以mg/kg表示的筛选元素限值

表A.2给出了一个限制物质的通用限值。这个限值对于Cd是100mg/kg,对于Pb、Hg 和Cr是1000mg/kg.对于Br是采用基于常见物质中PBB/PBDE的组成的1000mg/ kg的限值的理论计算值。本方法以筛选分析为目的.将安全系数定为30%(复合材料为 50%)设置为“处置界限”。 “低于限值”(BL)或"超出限值”(()L)分别以大于或小于30%(复合材料为50%)这个限 值所设定。符号“X”标记的区域需要进一步研究。 术语“3c”表示在处置界限附近分析的重复性,是接近管控限值的一个典型样品测试结 果的标准偏差[详见光谱仪性能验证试验8.4d)]。重复性是按“3g”为99.7%的置信水 平表示,而不是按常见的"2c”95%的置信水平表示。采用99.7%的置信水平,将使本方 法产生较少的假阴性误差”。因此·在式(A.3)中的扩展不确定度U,可以写成如下三种 形式:

CJJ∕T 202-2013 城市轨道交通结构安全保护技术规范A.4针对XRF方法的IIS2和IIS4统计数握

表A.3IIS2的统计数据

"m表示检测结果的算术平均 v表示期望值。 V表示接受的结果数量。 s(r)表示重复性标准偏差。 r表示重复性极限。 s(R)表示再现性标准偏差。 *R表示再现性极限。

"m表示检测结果的算术平均值 "V表示期望值。 "V表示接受的结果数量。 "s(r)表示重复性标准偏差。 r表示重复性极限。 "s(R)表示再现性标准偏差。 *R表示再现性极限。

表A.4IIS4的统计数据

"m表示检测结果的算术平均 表示期望值。 "N表示接受的结果数量。 “s(r)表示重复性标准偏差。 “r表示重复性极限。 【s(R)表示再现性标准偏差。 “R表示再现性限值JGJ∕T 208-2010 后锚固法检测混凝土抗压强度技术规程

m表示检测结果的算术平均 表示期望值。 "N表示接受的结果数量。 ds(r)表示重复性标准偏差。 “r表示重复性极限。 【s(R)表示再现性标准偏差。 *R表示再现性限值,

附录B (资料性附录) 利用XRF进行筛选的实际示例

B.3影响XRF结果的因素

在使用XRF分析方法时,有多种因素可能影响分析结果质量,其中一些因素如下所示: 为确保定量分析结果是可靠的,应保证待测样品是均质的。 需要确保只有样品上的相关区域位于分析仪的测定区域(窗口)之内。 ·应了解

为确保定量分析结果是可靠的,应保证待测样品是均质的。 ·需要确保只有样品上的相关区域位于分析仪的测定区域(窗口)之内。 ·应了解: a)激发X射线的穿透深度;和 b)为了正确地解释所得到的结果,应研究X射线荧光在分析材料中的穿透深度。 ·在分析多层样品时,应使用可以适 度与成分的专用软件

a)激发X射线的穿透深度;和 b)为了正确地解释所得到的结果,应研究X射线荧光在分析材料中的穿透深度 在分析多层样品时国家电网公司配电网工程典型设计(2017年版) 10kV架空线路抗台抗冰分册,应使用可以适 度与成分的专用软件。

B.3.2利用XRF进行筛选的示例

下面的示例说明了使用XRF筛选可用于确定不同样品符合性状态以及筛选结果对进一步取样决

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