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GB／T 40675.2-2021 数字器件和设备用噪声抑制片 第2部分：测量方法.pdf简介：

GB/T 40675.2-2021 是中国国家标准，全称为《数字器件和设备用噪声抑制片 第2部分：测量方法简介》。这个标准主要规定了数字器件和设备中使用的噪声抑制片的测量方法，特别是针对第二部分，它提供了一个简要的测量指南，用于评估和测试噪声抑制片的性能。

噪声抑制片通常用于减少电子设备中的电磁干扰（EMI）和无线电频率干扰（RFI），提高信号的清晰度和稳定性。这个标准可能涉及到的测量参数可能包括但不限于噪声抑制片的插入损耗、噪声抑制比、频率响应、温度稳定性等。

实施这个标准的目的是为了确保噪声抑制片的质量和性能满足电子设备的应用需求，同时为生产和使用这些产品的人员提供了一套明确的测试方法和标准。如果你需要更详细的测量步骤或者有其他关于这个标准的问题，建议查阅完整的标准文本或咨询相关领域的专业人士。

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5.4.4.4R,的计算

应按照公式（4)计算Rrs： 16

应按照公式（4)计算Rrs：

应按照公式（4)计算Rrs：

DB3201／T 1037.2-2021 建筑废弃物在道路工程中应用技术规范 第2部分：工程泥浆.pdf式中： P。—参照测试时的接收功率； P,——样品测试时的接收功率

5.4.5测试结果的表迷

应表述下列内容： a) Rrs; b）测试样品的粘附条件。

表9和图17示出了每种噪声的抑制效果

表9不同噪声路径和NSS位置的噪声抑制效果分类

以下测试方法适用于100MHz～6GHz范围内评估NSS两侧的线或零件之间的耦合减少 如图18所示，用于评估的测试夹具由微带线（MSL）和磁环天线构成。该测试夹具的目的是模

电子设备中经常观察到的电磁干扰。MSL和天线分别对应于噪声源（干扰）和接收器（受扰）。 如图19所示，天线和NSS设置在MSL的中心。测量带有NSS和不带有NSS的环形天线与MSL 的两个耦合因子（单位为dB）。两个因子的差为线路去耦比Ra，单位为dB。 NSS的磁导率会改变其附近的磁场，能用于减少MSL与天线之间的噪声耦合。在磁导率虚部为 主导的高频范围，由于NSS的磁损耗，噪声能被有效吸收，

图18用于线路去耦测量的测试夹具K

线路去耦比测量装置如图19所示。

标引序号说明： 环形天线下边缘与MSL基板表面之间的升距 1 环形天线表面相对于水平面的仰角： 92 环形天线相对于MSL横向方向的方位角； S 环形天线和MSL的中心偏移

图19线路去耦比测量装置示意图

5.5.3.1环形天线

应使用5.1.2.1中规定的小型环形天线

5.5.3.2微带线 微带线的尺寸如表10O所示。MSL的一端应通过SMA型连接器连接到网络分析仪，MSL的另 端应通过SMA型连接器连接到50Q的终端负载。终止于另一端的MSL的电压驻波比应小于1.2。

微带线的尺寸如表1O所示。MSL的一端应通过SMA型连接器连接到网络分析仪，MSL的另 应通过SMA型连接器连接到50Q的终端负载。终止于另一端的MSL的电压驻波比应小于1.2

图20NSS.环形天线和磁通配置

表11环形天线的尺寸

环形关线和MSL之间要求的频率响应应符合5.1.2.1的要求，但是，天线和MSL处于固定位置内 如图18所示

环形天线和MSL之间要求的频率响应应符合5.1.2.1的要求，但是，关线和MSL处于固定位置内， 如图18所示

5.5.3.3网络分析仪

矢量网络分析仪应按照5.1.2.2所述操作。

用来测试R，的测试样品尺寸如表12所列

5.5.4.2测试夹具上的粘附方法

5.5.5.1测试系统设置

5.5.5.2 参照测试

JG／T 143-2018标准下载5.5.5.3样品测试

表12测试样品的尺寸

表12测试样品的尺寸

测试样品宜按照5.5.4固定在测试夹具上。测量并记录S21数据作为样品特性值。测试女 作S21M。

5.5.5.4R的计算

应使用公式（5)计算Ra值： Ra =S21R—S21M(dB) 式中： S21R— 不使用测试样品时的传输特性（S21）； 使用测试样品时的传输特性（S，）

5.5.6测试结果的表述

应表述下列内容： a)Ral; b）测试样品的粘附条件； c）测试样品的厚度

NB／T 42133-2017 全钒液流电池用电解液 技术条件应表述下列内容： a)Ral; b）测试样品的粘附条件； c）测试样品的厚度