GB／T 23901.3-2019标准规范下载简介

GB／T 23901.3-2019 无损检测 射线照相检测图像质量 第3部分：像质分类简介：

GB/T 23901.3-2019 是中国国家标准，全称为“无损检测 射线照相检测图像质量 第3部分：像质分类简介”。这份标准主要规定了射线照相检测中图像质量的像质分类，为无损检测人员提供了一个评估和描述射线照相图像质量的标准化工具。像质分类是根据图像的清晰度、对比度、噪声等因素，对图像质量进行等级划分，一般分为A、B、C、D四个等级，A级为最佳，D级为可接受的最低标准。

像质分类的目的是为了确保检测的准确性和可靠性，不同的检测要求可能对应不同的像质分类标准。通过像质分类，可以对检测结果进行量化评价，有助于提升检测质量，降低因图像质量问题导致的误判可能性。

这是个大致的简介，具体的内容可能涉及像质计的使用，像质参数的测量，以及不同像质等级对应的图像特征等详细技术要求，需要查阅标准原文或相关的专业教材获取更准确的信息。

GB／T 23901.3-2019 无损检测 射线照相检测图像质量 第3部分：像质分类部分内容预览：

国家市场监督管理总局 发布 中国国家标准化管理委员会

范围 规范性引用文件 术语和定义 像质等级 像质计的放置 像质值的确定 射线照相检测的像质值 单壁透照技术（源侧A级像质） 单壁透照技术（源侧B级像质） 10双壁双影透照技术（源侧A级像质） 1 双壁双影透照技术（源侧B级像质） 2 双壁双影或双壁单影透照技术（探测器侧A级像质） 3 双壁双影或双壁单影透照技术（探测器侧B级像质）

周建平、危荃、孙建罡、王道龙、黄文大、吕延达、袁生平、刘军、胡玲、陈虎、袁支佐、张瑞、张义凤、翟莲娜、 马君。 本部分所代替标准的历次版本发布情况为： GB/T23901.3—2009。

无损检测射线照相检测图像质量

ISO5579界定的以及下列术语和定义适用于本文件。 3.1 像质计imagequalityindicator；IQ 能够测量所获得的像质T∕CBDA 7-2016 建筑幕墙工程BIM实施标准，由一系列不同等级尺寸的丝或带孔的阶梯组成的器件。 注：像质计也可用图像质量指示器、IQI表述。像质计类型通常为丝型或阶梯孔型。 3.2 像质值imagequalityvalue 表示为要求或达到像质计在射线照相检测图像上可识别的最细丝或最小孔的测定 注：像质值也可用图像质量值、IQI灵敏度（IQIsensitivity)表述。像质值见表1～表12。 3.3 像质表imagequalitytable 与透照厚度相对应的所需达到的像质值汇总表

ISO5579界定的以及下列术语和定义适用于本文件。 3.1 像质计imagequalityindicator；IQI 能够测量所获得的像质，由一系列不同等级尺寸的丝或带孔的阶梯组成的器件。 注：像质计也可用图像质量指示器、IQI表述。像质计类型通常为丝型或阶梯孔型。 3.2 像质值imagequalityvalue 表示为要求或达到像质计在射线照相检测图像上可识别的最细丝或最小孔的测定值 注：像质值也可用图像质量值、IQI灵敏度（IQIsensitivity)表述。像质值见表1～表12。 3.3 像质表imagequalitytable 与透照厚度相对应的所需达到的像质值汇总表

满足ISO5579的检测要求，可达到表1～表4的像质等级。 a）对于A级射线照相检测技术，对应A级图像质量（见ISO5579）； b）对于B级射线照相检测技术，对应B级图像质量（见ISO5579）。 表1～表4给出的像质值是用于像质计放在源测的情况。如果像质计不能放在源测，可放在探测 器侧，在这种情况下不能使用表1表4。 注：对特殊透照（例如：使用Ir192透照薄壁工件），可按规定选取不同的像质值，见第7章

满足1SO5579的检测要求，可达到表1～表4的像质等级， a）对于A级射线照相检测技术，对应A级图像质量（见ISO5579）； b）对于B级射线照相检测技术，对应B级图像质量（见ISO5579）。 表1～表4给出的像质值是用于像质计放在源测的情况。如果像质计不能放在源测，可放在探测 侧，在这种情况下不能使用表1～表4。 注：对特殊透照（例如：使用Ir192透照薄壁工件），可按规定选取不同的像质值，见第7章

满足1SO5579的检测要求可达到表5～表12的像质等级， a）对于A级射线照相检测技术，对应A级图像质量（见ISO5579）； b）对于B级射线照相检测技术，对应B级图像质量（见ISO5579）。 注：对特殊透照（例如：使用Ir192透照薄板工件），可按规定选取不同的像质值，见第7章。 当采用双壁透照射线照相检测技术时，透照厚度W为射线穿透的工件公称厚度t的总和。 表5～表8所示的像质值适用于像质计放在源侧时双壁双影透照方法的A级和B级像质等级。 表9～表12所示的像质值适用于像质计放在探测器侧时双壁单影透照方法的A级和B级像质等 ，也适用于像质计放在探测器侧时双壁双影透照方法的A级和B级像质等级，如接照ISO17636进 行椭圆透照检测

满足1SO5579的检测要求可达到表5～表12的像质等级， a）对于A级射线照相检测技术，对应A级图像质量（见ISO5579）； b）对于B级射线照相检测技术，对应B级图像质量（见ISO5579）。 注：对特殊透照（例如：使用Ir192透照薄板工件），可按规定选取不同的像质值，见第7章。 当采用双壁透照射线照相检测技术时，透照厚度W为射线穿透的工件公称厚度t的总和。 表5～表8所示的像质值适用于像质计放在源侧时双壁双影透照方法的A级和B级像质等级。 表9～表12所示的像质值适用于像质计放在探测器侧时双壁单影透照方法的A级和B级像质等 级，也适用于像质计放在探测器侧时双壁双影透照方法的A级和B级像质等级，如接照ISO17636进 行圆透照检测，

射线照相检测时，像质计应放直于被检。 表面。当被检工件的源侧表面无法放置像质计 时，像质计可放置在被检工件的探测器侧，但像质计附近需放置铅字“F”以示区别。像质计应放置在工 件厚度相对均匀的区域。如有特殊要求时应按所采用标准的规定进行。

使用胶片射线照相检测，在确定像质值时，观片条件应符合ISO5580的要求。 对于丝型像质计，在图像上能识别的最细丝的编号即为像质值。当图像密度（或灰度）均匀部位能 青晰的识别长度不小于10mm的连续金属丝影像时，则认为该丝的影像是可识别的。 对于阶梯孔型像质计，在底片上能识别的最小孔的编号即为像质值。当同一阶梯上含有两个孔时 则两个孔均应在图像上可识别。 一般情况下，每次射线照相检测均应通过确定像质值验证其检测质量是否满足要求。在透照相似 的被检工件和区域时，如果采用相同的曝光和处理技术措施能保证并且所得的像质值没有差别，则不需 要对每张图像质量进行验证，图像质量的验证范围由合同各方商定

7射线照相检测的像质值

当使用Ir192或Se75进行射线照相检测时，如合同各方认可如下规定，则所得像质值可低于表

表12规定。 双壁双影透照方法（表5表8），透照厚度（w），像质等级包括A级和B级： 使用Ir192.10mm

8单壁透照技术（源侧A级像质）

像质计置于源侧.应达到的A级像质值见表1表2。

表2阶梯引型像质计像质

9单壁透照技术（源侧B级像质）

计置于源侧.应达到的B级像质值见表3～表4

表4阶梯孔型像质计像质

10双壁双影透照技术（源侧A级像质

O双壁双影透照技术（源侧A级像质）

质计置于源侧，应达到的A级像质值见表5～表6

表6阶梯孔型像质计像质

11双壁双影透照技术（源侧B级像质）

11双壁双影透照技术（源侧B级像质）

像质计置于源侧，应达到的B级像质值见表7～表8。

表8阶梯孔型像质计像质

GB／T 37910.2-2019标准下载像质计置于探测器侧.应达到的A级像质值见表9～表10

像质计置于探测器侧，应达到的A级像质值见表9～表10

表10阶梯孔型像质计像质

13双壁双影或双壁单影透照技术（探测器侧B级像质）

GB∕T 22354-2008 土方机械 机器生产率 术语、符号和单位像质计置于探测器侧.应达到的B级像质值见表11~表12。

表11丝型像质计像质

表12阶梯孔型像质计像质