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GB／T 38518-2020 柔性薄膜基体上涂层厚度的测量方法简介：

GB/T 38518-2020 是中国国家标准，名为《柔性薄膜基体上涂层厚度的测量方法》。这个标准主要规定了在柔性薄膜基体上，如塑料薄膜、包装膜等，进行涂层厚度测量的方法和要求。

该标准涉及的涂层厚度测量方法主要包括以下几种：

1. 磁性测厚法：利用磁性物质吸附在涂层表面的原理，通过测量磁性物质的厚度来推算涂层厚度。

2. 涡流测厚法：利用涡电流在基体和涂层界面反射的原理，通过测量反射信号的变化来确定涂层厚度。

3. 超声波测厚法：利用超声波在涂层和基体中的传播速度差异，通过测量声波反射的时间来计算涂层厚度。

4. 光学测厚法：通过光学原理，如反射或透射，测量涂层厚度。例如，使用反射光干涉法或散射光法。

5. 显微测量法：对于较厚的涂层，可能需要使用显微镜等工具，测量涂层的截面来确定其厚度。

这些方法的选择取决于涂层的类型、基体的性质以及涂层的厚度范围等因素。在实际操作中，测量人员需要严格按照标准的要求进行操作，确保测量的准确性和可靠性。

GB／T 38518-2020 柔性薄膜基体上涂层厚度的测量方法部分内容预览：

国家市场监督管理总局 发布 国家标准化管理委员会

GB/T38518—2020

DZ／T 0276.17-2015标准下载本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本标准由中国机械工业联合会提出。 本标准由全国金属与非金属覆盖层标准化技术委员会（SAC/TC57)归口。 本标准起草单位：中国科学院上海硅酸盐研究所。 本标准主要起草人：刘紫微、吴伟、林初城、姜彩芬、曾毅、齐振一、乐军、宋力昕

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桑性薄膜基体上涂层厚度的测量

本标准规定了柔性薄膜基体上涂层（包含有机、无机与金属涂层）厚度扫描电子显微镜测量的基本 方法及原理、标准样品和仪器设备、操作方法、数据处理的方法， 本标准适用于厚度不大于3mm的柔性薄膜基体上厚度为10nm～0.5mm的涂层的厚度测量

下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于之 凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T20307一2006纳米级长度的扫描电子显微镜测量方法通则

针对柔性薄膜基体采用机械抛光容易发生扭曲变形或磨粒嵌人等问题，采用氩离子束抛光机可以 有效对柔性薄膜基体截面进行抛光，在扫描电子显微镜的二次电子像或者背散射电子像下能够清晰区 分柔性薄膜基体与基体上的涂层。 氩离子束抛光机主要由带涡轮真空泵的样品室和用于样品定位的光学显微镜组成。抛光过程中， 洋品固定在样品座上，在光学显微镜下选择样品抛光区域，然后用遮挡板遮住样品非目标区域仅露出需 光区域，抽真空后氩气通过离子源产生离子束，经加速、集束后轰击样品抛光区域，与样品表面层发生 碰撞，将能量传递给样品表面的原子、分子而使之产生溅射，从而形成对样品的抛光作用。

用扫描电子显微镜在相同加速电压和工 散射电子像，然后测量出待测样品图像中柔性薄膜基体上涂层的厚度和标准样品图像中的网格长 合标准样品的已知长度，计算涂层的厚度

级有证书标准样品或省级以上（含省级)计量技术

次电子像分辨力优于3nm，背散射电子像分辨力

GB/T38518—2020

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5.1待测样品截面的制备

应垂直于涂层表面。 注：针对涂层最外层是有机物或者含有机物的待测样品，可在待测样品表面蒸镀厚度约为50nm的金属层（如铂 层）作为保护层与分隔层。 5.1.2在模具内，将待测样品平放，倒人按比例配备均匀的冷镶嵌树脂进行镶嵌。 5.1.3对5.1.2得到的镶嵌样品上表面和截面进行粗磨和细磨，使粗糙度Ra不大于20um，使镶嵌样 品上表面到待测样品表面的距离小于0.5mm，涂层截面完全暴露且镶嵌样品的上表面与截面垂直。 5.1.4用热蜡或胶带将研磨好的待测样品粘到长方体样品座上，截面应与样品座边缘平行，并高出样 品座边缘1mm2mm。 5.1.5对氩离子束抛光机进行校验，确保离子束聚焦束斑中心与光学显微镜十字叉丝吻合。 5.1.6将氩离子束抛光机样品台的倾斜角度调整到零。 5.1.7 将样品座安置在氩离子束抛光机内，在光学显微镜下，按以下原则确定被抛光位置： a）确保挡板与镶嵌样品上表面在40倍光学显微镜下无缝隙； b） 调整镶嵌样品位置，使被抛光区域处于光学显微镜视场中央位置； 调整挡板位置，确保挡板边缘与光学显微镜刻度的X轴保持平行，并使镶嵌样品抛光面突出 挡板下边缘约50um。 5.1.8设置氩离子束抛光机的工作参数如下： a）加速电压为3kV6kV；

a）加速电压为3kV6kV； b） 电流：170uA~280uA; C） 样品台摆动速度到最快挡； d 氩气压控制在0.03MPa~0.05MPa，氩气流速控制在1.5cm²/min~1.8cm/min； e） 根据需要加工深度，设置合适的加工时间。 注1：根据柔性薄膜基体与涂层的热稳定性选择合适的加速电压，热稳定性差的待测样品，选择较低的加速电压。 注2：热稳定性差的待测样品在采用较低加速电压后，仍发生热损伤时，建议采用配有温控液氮冷却台的氩离子束 抛光机进行加工。 1.9当样品室内到达规定真空值，按下开关，开始加工，直至加工结束，得到待测样品截面。 注：加工过程中，可通过氛离子束披 微镜观察加工进度

5.2预估待测涂层的厚度值

1将抛光好的待测样品水平固定在扫描电子显微镜长方体样品座的一侧。 2用扫描电子显微镜观察待测样品，根据扫描电子显微镜的标准放大倍数（或图像上的标尺）， 手测薄膜基体上涂层的厚度。

选取标准样品的原则如下： a）优先选取不确定度小的标准样品：

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b）优先选取分度值接近待测涂层厚度的标准样品； c）优先选取线间距的标准样品； d）优先选取标记敏锐的标准样品； 对于精确测量，如果标准样品的分度值，大于待测涂层厚度的1.5倍，应按照GB/T20307 2006的B.1进行； f 如果没有分度值合适的标准样品，应按照GB/T20307一2006的B.2扩展标准样品

5.4待测样品和标准样品的安装

一创或两创，使标准韩品的 长度方向和待测涂层的厚度方向平行

5.5.1将扫描电子显微镜调整到最佳工作状态，

选取合适的工作距离； 选取合适的加速电压； ） 选取合适的电子束电流； d 选取合适的图像对比度与亮度，使长度标记敏锐； e） 尽可能消除电子束的像散； f）使图像正焦。 5.5.2扫描电子显微镜的样品台倾斜角度调整为零。 5.5.3 选取合适的放大倍数：显示屏上待测放大的图像中，待测柔性薄膜基体上涂层不超过视场的五 分之四，涂层厚度应尽可能大一些 5.5.4移动样品台，使标准样品分度的图像处于视场的中央位置，获取标准样品分度的图像，并记录实 标工作距离。 5.5.5调节待测样品高度至与标准样品测试时相同的实际工作距离，在不改变扫描电子显微镜状态与 其他参数情况下，移动样品台，使视场中待测涂层的厚度方向与标准样品的分度方向相同，且处于视场 的中央位置，获取待测涂层的图像

5.6.1使用扫描电子显微镜自备的测量工具对标准样品图像进行测量，重复测量标准样品放大图像中 网格的长度25次，并计算获得标准样品放大图像中长度的实测平均值A。 5.6.2使用扫描电子显微镜自备的测量工具对待测涂层图像进行测量，重复测量待测样品放大图像中 徐层的厚度25次，并计算获得待测样品放大图像中涂层厚度的实测平均值B

6.1柔性薄膜基体上涂层厚度实测值TDB11／T 1625-2019标准下载，按式（1)计算：

性薄膜基体上涂层厚度实测值T，按式（1)计算：

式中： h 标准样品中网格长度的标定值； B 待测样品放大图像中涂层厚度的实测平均值 A 一 标准样品放大图像中网格长度的实测平均值

GB/T 385182020

6.2柔性薄膜基体上涂层厚度实测值T的标准不确定度u，按式（2)计算：

6.2柔性薄膜基体上涂层厚度实测值T的标准不确定度u《城市轨道交通结构抗震设计规范 GB50909-2014》，按

)+181 V(e+

标准样品中网格长度的标定值； 标准样品的标准不确定度； 扫描电子显微镜的分辨力； 标准样品和待测样品放大图像的测量次数，一般情况n取25