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中华人民共和国国家标准

半导体集成电路

快闪存储器测试方法

Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory

GB/T 36477-2018

2018-06-07 发布

2019-01-01 实施

国家市场监督管理总局 发布

中国国家标准化管理委员会

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