GB T 21355-2022无损检测 基于存储磷光成像板的工业计算机射线照相检测系统分类.pdf

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标准编号:GB T 21355-2022
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标准类别:国家标准
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GB T 21355-2022标准规范下载简介

GB T 21355-2022无损检测 基于存储磷光成像板的工业计算机射线照相检测系统分类.pdf简介:

GB/T 21355-2022标准是中国的国家标准,其全称是《无损检测 基于存储磷光成像板的工业计算机射线照相检测系统》。该标准主要关注的是工业计算机射线照相检测(Industrial Computerized Radiography, ICR)技术中,使用存储磷光成像板作为检测媒介的一种无损检测方法。

存储磷光成像板是ICR技术中的一种重要检测材料,它由一层磷光材料覆盖在基底材料上,能在受射线照射后产生磷光信号,这些信号可以通过特定的读出设备转化为图像。存储磷光成像板的特点是可以在曝光后立即读出,无需显影和定影过程,且图像质量稳定,适用于各种工件的检测。

根据GB/T 21355-2022标准,工业计算机射线照相检测系统可以按照不同的分类方法进行分类,如按照检测系统结构(如固定式、移动式、集成式等)、按照图像处理方式(如数字图像处理、自动分析系统等)、按照应用领域(如航空航天、电力设备、机械制造等)等。这些分类有助于统一和规范该技术在工业领域的应用,提高检测的精度和效率。

总的来说,GB/T 21355-2022标准对于存储磷光成像板在工业计算机射线照相检测中的使用提供了详细的指导和技术要求,对于提升我国工业无损检测技术水平具有重要意义。

GB T 21355-2022无损检测 基于存储磷光成像板的工业计算机射线照相检测系统分类.pdf部分内容预览:

一 增益8; 增益16; 增益2; 增益4; X 根据6.1.1的步进曝光方法,计算mAs的对数log(曝光时间·管电流),或采用6.1.2的阶梯模形法:计算log (曝光时间·管电流)一μca·Wca·log(e)(按顺序使用wWca)。 图A.2用于确定CR系统最小读出强度Iix的方案 (Ix值从强度曲线的交叉点用图A.1所取的X值箭头测定)

B.1CR模块中CR质量指示器的位置和校准

所有描还的CR质量指示器(见 块CR模块测试板中。CR模块由低吸收材料 的载体板(如有机玻璃)组成,图B.1

DBJ∕T 36-070-2021 住宅厨房和卫生间排气道系统应用技术标准图B.1用于计算机射线照相系统鉴定 (尺寸约为43cm×35cm)的含有CR质量指示器的CR模块示例

CR模块可进行不同的底纹测试,按以下目的和程

B.2.2底纹质量指示器

在一块有机玻璃板(CR模块)中底纹质量指示器是一组直径为19mm,深度为0.3mm的三个于 孔间隔应至少为10cm。孔应与激光束的扫描方向平行排列。

在CR模块中有三个孔(EL、EC和ER),直径为19mm,深度为0.3mm。这些孔用于确保扫描激 光强度在成像板上扫描宽度均匀性,并且检查光导/光电倍增管组件的正确对准。在计算机上,用像素 或灰度轮廊工具测量孔的像素值。在胶片上,用密度计测量圆孔处的胶片黑度。圆孔外的像素值或黑 度值与中间圆孔值的偏差不宜超过10%。本测试推荐的质量保证程序由合同各方认可。然而,在对光 导/光倍增器管组件进行任何维修服务后,均宜进行底纹校正评估

中心束准直质量指示器由一卷薄铅箔(高度为1.5mm~2.0mm)组成QB∕T2803-2006硬质塑料管材弯曲度测量方法.pdf,薄片由0.1mm的低吸收 高开(见图B.2)。也可使用蜂窝材料

CR模块应垂直于射线源的射线束中心。射线束中心应对准中心束准直质量指示器中心。BAM 8

铅箔蜗形盘或蜂窝结构应独立于各自的方向

B.4对比度灵敏度质量指示器

附录C (资料性) 各种测试和测试方法的应用指南

这些测试通常比较复杂和耗时,且要求 用硬件和软件。测试方法和测试过程应按本文件规

BS EN 1670-2007 建筑五金腐蚀抗性要求和测试方法C.2修复后、升级或使用改进的IP测试

由于可提高系统的功能变更,如CR扫描仪的维修或升级和IP升级,因此要求专门的测试验证CR 系统性能的良好性。这些测试通常为所有用户测试和那些被标记为“用户和制造商”测试,以及验证 CR系统分类所要求的其他评价。

为保证实验室质量,要求定期测试CR系统,验证其系统性能的良好性。时间间隔取决于系统的使 用程度,并应由用户和制造商信息问题确定。这些测试被称为用户测试。 应使用5.1中质量指示器或CR模块以较短的时间间隔定期按6.4.1~6.4.6规定测试基本性能 应包括以下内容: a)空间分辨率(采用双丝法或收敛型线对像质计); b)对比度(待检测材料可识别的对比百分比); c)滑移(是/否); d) 抖动(是/否); 底纹(选定距离的百分比); f 完成测试的透照参数; g) 日期和操作员的名字; h) 只有在扫描仪或IP品牌发生变化且没有制造商数据或系统在极端温度条件下时,才宜进行影 像衰退测试。在曝光和扫描之间的预期时间间隔内,影像衰退宜小于50%。 IP应按6.4.7检查伪像,按6.4.6擦除。 大量使用后,扫描仪中的IP或光电倍增管的衰退可降低系统灵敏度。因此,用户或服务人员宜以 较长的时间间隔(例如年度)测定信噪比(SNR)。信噪比(SNR)应大于或等于初始值的90%。如果不 提高系统清晰度,则可接受的信噪比(SNR)增加不受限制。 信噪比(SNR)测试程序:按6.1.2曝光阶梯楔块。在最低增益和线性化特征曲线下,信噪比(SNR) 测定应为读取图像最大可能强度的90%。数值应符合6.1.1.8要求。如果曝光的阶梯区域没达到强度 的90%,则应通过二次插值从相邻三个曝光的阶梯区域确定信噪比(SNR)。应记录测定数据和归一化 信噪比(SNR)(见6.1~6.2)。本程序(由软件、系统设置和曝光数据组成)应由制造商提供给用户。用 户或服务人员进行曝光并应用软件进行信噪比(SNR)测定。 测试应始终保持相同的射线照相质量(管电压和前置滤波片)、相同的阶梯楔块、相同的距离和准 直。应按2倍放大倍数进行阶梯块曝光。推荐的阶梯楔块材料是铜,但钢也可接受。如果6.1.1.2~ 6.1.1.3的推荐值为并不是典型的曝光值,用户宜使用低于220kV(推荐值为110kV)的典型电压值,并 在X射线管前面放置厚度至少为8mm的铝前置滤波片。应详细记录所有参数和结果

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