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GB／T 40915-2021 X射线荧光光谱法测定钠钙硅玻璃中SiO2、Al2O3、Fe2O3、K2O、Na2O、CaO、MgO含量.pdf简介：

GB/T 40915-2021 是中国国家标准，全称是《X射线荧光光谱法测定钠钙硅玻璃中SiO2、Al2O3、Fe2O3、K2O、Na2O、CaO、MgO含量的方法》。该标准规定了使用X射线荧光光谱法（X-ray Fluorescence Spectrometry, XRF）测定钠钙硅玻璃中主要氧化物（SiO2、Al2O3、Fe2O3、K2O、Na2O、CaO、MgO）含量的方法。

XRF是一种非破坏性的元素分析技术，通过分析样品对特定X射线的吸收特性，来确定样品中各元素的含量。在玻璃行业中，这种技术常用于快速准确地测定玻璃中的主要成分，如硅酸盐、氧化物等。

该标准详细描述了实验设备、操作步骤、样品制备、数据处理和结果报告等方面的要求，旨在保证测定结果的准确性和可比性。遵循该标准，可以确保钠钙硅玻璃中各成分的测定结果符合行业标准或客户要求。

GB／T 40915-2021 X射线荧光光谱法测定钠钙硅玻璃中SiO2、Al2O3、Fe2O3、K2O、Na2O、CaO、MgO含量.pdf部分内容预览：

用熔融法或压片法制成的样片，通过X射线管产生初级X射线照射到样片表面上，产生的 射线经晶体分光后，检测器在选择的特征波长相对应的20角处测量X射线荧光强度，根据校准

GB/T40915—2021

和测量的X射线荧光强度，计算出样品中各元素氧化物的质量分数。

除非另有说明JG∕T 87-1999 组合式振动压路机分类，所有试剂均为优级纯

无水四硼酸锂和偏硼酸锂的混合熔剂[LizB,O,（66.7%）+LiBO2（33.3%）

5. 1.2 自制熔剂

无水四硼酸锂和偏硼酸锂按2：1质量比充分混合均匀， 分别取二份各1g的自制熔剂于埚中，置于1050℃士15℃的温度下熔融10min，冷却至室温后 弥重，计算灼烧失量L，较大者作为校正熔剂用量。通常每周测定一次灼烧失量，熔剂应密封保存。 按公式（1)计算灼烧失量L，按公式（2）计算校正因子F：

式中： L 灼烧失量； 灼烧前的熔剂质量，单位为克（g）； m 2 灼烧后的熔剂质量，单位为克（g）； 一校正因子

一般工业用硼酸，硼酸（HBO.）质量分数≥99.0%

一般工业用硼酸，硼酸（H,BO.）质量分数≥99

采用铂金合金（95%Pt+5%Au）制成

采用铂金合金（95%Pt十5%Au)制成。铸模材料底厚度一般不低于1mm，使其不易变形。熔样皿 和铸型模可合二为一。若样品在熔样皿中熔融后直接成型，则熔样皿底面内壁应平整光滑。

多使温度保持在1150℃土15℃，带有自动转动和

6.4波长色散X射线荧光光谱仪

能够使温度保持在105℃±5℃

6.6 高温炉 能够使温度保持在1120℃士20℃。 6.7 电子天平 精度为0.0001g。 6.8 搅拌棒 镍质或铂质材料制成

6.10自动磨样机（球磨机）

磨样罐用不对样品产生污染的材料制成， 示例：玛瑙等。

磨样罐用不对样品产生污染的材料制成 示例玛瑙等。

压力不小于200kN

GB/T 409152021

7.1.1将样品破碎至7mm以下，按四分法缩分至约100g。 7.1.2将缩分后的样品粉碎至0.5mm以下，继续缩分至20g。 7.1.3为了易于熔融，样品应研磨至小于75μm。可采用以下两种方法获得所需的粒度： a） 机械研磨法采用磨样机将样品研磨至所需粒度：54 b）手工研磨法用玛瑙研钵研磨约1min后，用GB/T6005规定的75um筛子筛分，将筛上剩余 物再研磨，再筛分，反复进行，直至所有样品通过。 7.1.4称量前，应将样品置于105℃土5℃的烘箱中烘1h，转移至干燥器中冷却至室温

7.2.1方法一（熔融法）

自制熔剂质量应考虑补偿灼烧失量，通过校正因子F计算

7.2.1.2熔融和浇铸

将装入样品的熔样皿放入预先升温至1050℃的熔样机中，在1050℃土15℃下熔融，熔融过程 中，熔样机转动和摇摆熔样皿，使熔融物混勾，熔融10min，静置10s。 取出熔样皿，轻微摇动，使玻璃液均匀覆盖熔样皿底部，放置冷却，形成样片

7.2.1.3样片要求

样片应按下列要求： a）样片不应有目测到的不熔物、结晶、气泡等； b）样片厚度满足X射线荧光分析要求，测量面为样片与熔样皿底接触面 方法二(压片法）

7.2.2方法二（压片法）

分别称取适量预处理的样品和工业硼酸

采用硼酸作镶边衬底，或用塑料环等固定，在压样机中压片。设置压样机压力为200kN，保持压力

7.2.2.3样片要求

样片应按下列要求： a）样片表面应平整光洁、表面均匀，无划痕和裂痕现象等； b）样片厚度满足X射线荧光分析要求。

起知成分的标准样品应采用与待测样品相同的方

7.2.4漂移校正样品

漂移校正样品应采用7.2.1和7.2.2两种方法制备。 漂移校正样品含有所有校准元素，其浓度应使其计数率的统计误差小于或等于校准元素的计数率 统计误差。

随同样品分析同类型的标准样品

8.3样片的标识和保有

取出样片，在非测试面做标识，放于干燥器内保存，防止吸潮和污染。

8.4.1标准样品的测量

8.4.1.1选择玻璃标准样品，每个样品的SiO2、A12O3、FezO：、K,O、NazO、CaO、MgO都应有一个同时 满足有足够的含量范围和一定梯度两个要求的标准系列。 8.4.1.2启动X射线荧光光谱仪的校准曲线制作程序，然后输入标准样品及其SiO2、A12O：、Fe2O、 K,O、Na2O、CaO、MgO含量的标准值，测量并记录标准样品中各分析元素的X荧光射线强度

8.4.2绘制校准曲线

8.4.3仪器漂移校正

若仪器出现较大漂移时，可通过测量漂移校正样品中分析元素的X射线强度进行校正。如果走 许范围，应重新绘制标准曲线。漂移校正样品中分析元素的参考强度应与校准曲线制作在同一次 中测量。

完成工作条件建立后，测定待测样品。分别读取SiO2、Al2O：、FezO：、K2O、NazO、CaO、MgO白 数据并记录

测量标准样品的X射线强度，得到强度与浓度的回归二次方程或一次方程。 方程式可通过最小二乘法计算，求出校准曲线常数α、b、℃。 根据待测样品的X射线测量强度GB∕T 50903-2013 市政工程施工组织设计规范，按照公式（3）计算含量

W:=al2+6l,+a

Z 结果计算时分别对应SiOz、Al2O3、FezO：、K2O、Na2O、CaO或MgO； 心; 样品中氧化物i的质量分数； I； 一氧化物i相应元素的X射线强度； a、b、 校正曲线常数 数值的取舍按GB/T8170规定进行。计算结果大于1%时，保留小数点后两位；计算结果小于1% 时，保留两位有效数字，

10.1重复性限值参见表1

10.2在采用本方法测定同一样品时，同一试验室的同一分析人员，应重复进行两次测定，两次分析结 果之差应符合重复性限值规定，如超出规定，应进行第三次测定，所得分析结果与前两次中任一次结果 之差符合重复性限值规定时，则取其平均值。否则应查找原因，重新进行测定。 10.3在采用本方法测定同一样品时，同一试验室的两名分析人员所得分析结果之差应符合重复性限 直规定，如超出规定，应找第三者按本文件同一方法进行测定，分析结果与前两者中任一者结果之差符 合重复性限值规定时，取其平均值。否则应查找原因，重新进行测定

JGJ 85-2010 预应力筋用锚具、夹具和连接器应用技术规程(完整正版、清晰无水印).pdf试验报告至少应给出以下儿个方面的内容： ）试验对象信息； b）所使用的标准编号； 检验项目； d）所使用的方法（熔融法或压片法）； e） 结果； 观察到的异常现象； g 实验室名称和地址； h） 接收日期、测试日期； 报告发出日期

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