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GB／T 15078-2021 贵金属电触点材料接触电阻的测量方法.pdf简介：

GB/T 15078-2021 "贵金属电触点材料接触电阻的测量方法" 是中国国家标准，其主要目的是规定了贵金属电触点材料接触电阻的测量技术要求和方法。这项标准适用于评价和检测各种贵金属，如金、银、铂等，用于电子和电气设备中的电触点材料的接触电阻性能。

测量方法简介如下：

1. 测量设备：使用专门设计的电接触电阻测量装置，通常包括恒压源、电流表、电压表和温度控制设备。

2. 测量条件：在规定的环境温度和湿度条件下进行测量，通常要求在室温下进行，有时也需要考虑温度对电阻的影响。

3. 测量步骤：首先，将待测材料制成电触点，并将其安装在测量装置上。然后，施加恒定的电压，测量通过触点的电流，根据欧姆定律（R=V/I）计算接触电阻。测量时需要重复几次，取平均值以减小误差。

4. 数据处理：记录每次测量的结果，如果多次测量的电阻值差异过大，可能需要检查触点表面的清洁度、压力等因素，以确保测量的准确性。

5. 结果评价：根据测量结果判断电触点材料的接触电阻是否满足标准要求，如接触电阻过大或不稳定，可能会影响触点的使用寿命和设备的性能。

该标准对于确保电触点材料的可靠性、稳定性和一致性具有重要意义。

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GB/T150782021

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贵金属电触点材料接触电阻的测量方法

DB43／T 1836-2020 智能轨道快运系统施工及验收规范.pdf管示一一使用本义件的。 本文件并未指出所有可能的安全问 题。使用者有责任采取适当的安全和健康措施.并保证符合国家相关法规规定的条件

本文件规定了贵金属电触点材料（静态）接触电阻的测量方法。 本文件适用于贵金属电触点材料接触电阻的测量。其他金属及合金电触点材料也可参照使用。

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文 件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于 本文件。 GB/T8170数值修约规则与极限数值的表示和判定

下列术语和定义适用于本文件。 3.1 静态接触 staticcontact 触点相互静止接触、无连续性的离合动作。 3.2 收缩电阻 constriction resistance 电流通过接触面时，因电流线急剧收缩而产生的电阻增量。 3.3 膜电阻membraneresistance 触点表面膜所产生的电阻。 3.4 接触电阻 contactresistance 电流通过触点时在接触处产生的总电阻，包括收缩电阻与膜电阻，总电阻数值为两种电阻之和。 3.5 体积电阻 bulkresistance 电流流过触点材料自身后产生的电阻，其数值与材料的电阻率、长度成正比，与截面成反比。 3.6 探头probe 测量试样接触电阻的一种装置，其基本形状为锥体，主要有圆锥形、棱锥形，进行测量时锥体尖部

下列术语和定义适用于本文件。 3.1 静态接触 staticcontact 触点相互静止接触、无连续性的离合动作。 3.2 收缩电阻 constrictionresistance 电流通过接触面时，因电流线急剧收缩而产生的电阻增量。 3.3 膜电阻membraneresistance 触点表面膜所产生的电阻。 3.4 接触电阻 contactresistance 电流通过触点时在接触处产生的总电阻，包括收缩电阻与膜电阻，总电阻数值为两种电阻之和。 3.5 体积电阻 bulkresistance 电流流过触点材料自身后产生的电阻，其数值与材料的电阻率、长度成正比，与截面成反比。 3.6 探头probe 测量试样接触电阻的一种装置，其基本形状为锥体，主要有圆锥形、棱锥形，进行测量时锥体尖部 接与试样的待测面接触，以试样接触的表面为参考面，参考面可以为不同的形状。

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图1接触电阻测量装置示意图

用来提供测量所需的接触压力。 压力可由码、弹簧或电磁力提供。通过电磁或机械施力机构 深头逐步施加接触压力，施力机构在进行压力测量过程中应保持压力恒定。施力机构在闭合和断 不能在触点表面产生冲击和跳动，下降和上升线速度小于2.5mm/s，推荐值为3.3um/s

6.3接触电流控制回路

落到试验机上，并消除测试中测试点附近气流流

最大输出电压6V、电流为100mA，其稳定度每小时不低于0.01%。可用电流源精 0.01%的恒流源代替6.3.2、6.3.3、6.3.4提供直流电源

最小分度值1mA，测量精度不低于0.01%。

K，为电源通断开关：K，为电流换向开关。

6.4接触电压测量回路

用于测量接触电位差和开路电压。它应有合适的量程，最小分度值为1μV，精度为0.02%。

K，为选择开关，用于选择试样或标准电阻；K

应采用多芯细而柔软的导线制成 细而柔软，以减小对探头运动的阻力和对 参数测量的于扰。电位引线的安装应使体积电阻的引入程度减小到可以忽略

7.1试样为各种形式的贵金属及其合金电触点材料，包括各种型材、铆钉、复合膜和电镀体。试样应取 表面均匀的部位。 7.2探头由贵金属制成，其参考面可为球面、平面和圆柱面。通用探头（如纯金）参考面的粗糙度Rz 应不大于1.6um。需要测定触点材料自身配对的接触电阻时，此时对表面粗糙度不作要求。球面和圆 柱参考面的曲率半径通常分别为0.5mm~1.6mm和0.25mm~0.5mm。

试样为各种形式的贵金属及其合金电触点材料，包括各种型材、铆钉、复合膜和电镀体。试样应 面均匀的部位。 探头由贵金属制成，其参考面可为球面、平面和圆柱面。通用探头（如纯金）参考面的粗糙度 不大于1.6um。需要测定触点材料自身配对的接触电阻时，此时对表面粗糙度不作要求。球面利 参考面的曲率半径通常分别为0.5mm1.6mm和0.25mm~0.5mm。

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7.3连接试样和探头的电流和电压引线可用压接或焊接的方式安装，减小体积电阻的引人。在安装过 程中不能改变待测表面和参考面的原始状态。 7.4试样和探头应保持清洁干净、干燥，应保持试样表面的原始状况与送样时的一致性，待测表面和参 考面不应用手触摸。必要时可采用5倍放大镜观察表面

装置应远离振动源、高温热源，无电磁干扰和腐蚀性气体，室内含粉尘量低、无明显气流流动。试 应安装在刚性台座上并垫上足够厚的弹性材料

8.1.2电气和机械条件

8.2.1校验用标准样品由纯金（纯度>99.9%）制成，表面粗糙度Rz应不大于1.6m。 8.2.2校验在下列负荷范围内任选三种不同的组合进行接触电阻测量：电流为1mA～100mA；开路 电压为10mV~6V；静态接触压力为3cN~500cN。 8.2.3校验方法按8.3～8.4的步骤进行。每种组合条件下测量5个点。每次读数的稳定时间约为 30S。 8.2.4若测得的接触电阻均在1.5mQ～5.0m2范围内，则该装置合格，否则应找出原因予以消除

8.3.1断开K，，K在正向位置，电位器P置于零输出，电阻R调至最天，探头夹具在开起的位置。接 通电源预热设备，将开关K，切换在标准电阻测量回路上，使得电源在带载情况下进行预热。 3.3.2装上试样和探头并接好引线，调整试样平台使试样与探头对正，但不发生接触。 8.3.3闭合K，设备预热后，调节电位器并用电压测量仪测量其输出电压，直至需要的开路电压值 为止。 8.3.4先将探头上的接触压力调至零，然后加上所需的压力负荷。探头下降的线速度应事先调整好， 以后一般不再变动。 8.3.5将K3置于标准电阻选择位置。降下探头接触试样，调节可调电阻使电流升至所需的值。测定 标准电阻两端的电位差按式（1）准确计算出接触电流，若达不到预定值，进一步调节可调电阻使其达到

式中： I。一接触电流，单位为毫安（mA）； V。一标准电阻两端电压降值，单位为毫伏（mV）； 一标准电阻名义电阻值，单位为欧姆（2）。 8.3.6将K，转到试样选择位置，测出探头与试样间的接触电位差，按式（2)计算出接触电阻

式中： I 接触电流，单位为毫安（mA）； 标准电阻两端电压降值，单位为毫伏（mV）： R. 一标准电阻名义电阻值，单位为欧姆（2)。 3.6将K。转到试样选择位置.测出探头与试样间的排

式中： Re 接触电阻，单位为欧姆（2）； V. 探头和试样间的接触电压降值，单位为毫伏（mV） 接触电流，单位为毫安（mA)

8.4.1将K，置于标准电阻选择位置后间隔10S，再升起探头，变更测量点。利用开关K和K4，在电 流的正反方向上分别测出标准电阻两端以及探头和试样之间的电压降值。在示值稳定后读数，通常的 稳定时间为20s～30S，必要时可延长。 8.4.2重复8.4.1的操作和测量，每个样品至少测量10个不同的点。 8.4.3若需变更开路电压测量，重复8.3.3～8.4.2的步骤；若需变更接触压力测量，重复8.3.4～8.4.2的 步骤；若需变更接触电流测量，重复8.3.5～8.4.2的步骤。上述测量条件的变更，按由低到高的顺序 进行。

先将各测量点在电流的正反方向上测量的标准电阻两端的电压降分别代入式（1），计算出正反向上 的接触电流值。 然后，将正反向接触电流I。和相对应的探头和试样之间的接触电压降值V。代人式（2），计算出正 反向电流下的接触电阻。取它们的平均值为该点的接触电阻，称单次测量值。 将所有各测量点的单次测量值按式（3)计算整个测量的平均值R。

式中 R。整个测量的平均值； 单次测量的次数； 单次测量的顺序号，取1、2n； R.i 第i测量点的接触电阻单次测量值《危险化学品气瓶标识用电子标签通用技术要求第3部分：读写器特殊要求 SJ∕T 11532.3-2015》，单位为欧姆（2）

被测接触电阻的数值为10°m2、101 m2数量级时，所取数据的最后一位有效数值分别 为0.01mQ、0.1mQ和1mQ。数值修约按GB/T8170的规则进行

由于接触电阻包括收缩电阻与膜电阻，它不是材料固有的单值性能，影响因素很多，故对测量结果 不给出确定的误差。作为组成测试系统的误差可以确定，其均方根误差不大于士2%。随着测量电流、 测量压力的变大，接触电阻均会减小且与接触时间的增长表现为先快速减小，而后逐渐稳定的衰减过 程，基于该特征可以选择适当的接触压力、测试电流和测试时间条件，降低这些主要因素对接触电阻测 量的影响

试验报告至少应给出以下几个方面内容：

GB 51157-2016 物流建筑设计规范(完整清晰正版).pdf样品； 所使用的标准（包括发布或出版年号）； 结果； 观察到的异常现象； 试验日期。

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