GB／T 12085.22-2022 标准规范下载简介
GB／T 12085.22-2022 光学和光子学 环境试验方法 第22部分：低温、高温或温度变化与碰撞或随机振动综合试验.pdf简介：
GB/T 12085.22-2022 是中国国家标准，全称为《光学和光子学环境试验方法 第22部分：低温、高温或温度变化与碰撞或随机振动综合试验》。这个标准规定了在测试光电子设备、光学组件和其他光学或光子学产品时，如何进行低温、高温、温度变化、碰撞或随机振动等综合环境下的试验。
该部分试验的主要目的是模拟产品在实际使用中可能遇到的极端温度变化以及机械冲击，以评估其在这些极端条件下的性能稳定性、可靠性以及耐用性。试验内容可能包括对设备在不同温度范围内的操作性能测试、在特定温度变化速率下的性能保持性、以及在模拟碰撞或随机振动的情况下的结构和光学性能影响。
执行此类试验可以帮助制造商确保产品在各种严苛环境下的性能，满足用户的需求和预期，同时也能为产品的设计和改进提供依据。
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前言 引言 范围 规范性引用文件 术语和定义 ：试验条件 5条件试验 6’试验程序 环境试验标记 规范 附录A（资料性） 说明 参考文献
GB/T12085.222022
GB/T12085.222022
光学和光子学仪器广泛应用于国民经济及国际科技各个领域，由于其使用及运输环境条件非常复 有来自物理的、化学的、生物的、气候的以及电气的等各种环境条件的影响工程场地地震安全性评价GB 17741-2005，都会使光学和光子学仪 性能发生变化而不能正常发挥功能， 鉴于上述原因，为了保证光学和光子学仪器产品的质量，需要模拟各种复杂的环境条件变化，对光 光子学仪器产品进行试验，考核其经受严酷环境条件的能力，因而GB/T12085包含了试验条件、 试验、试验程序、环境试验标记等条款。同时由于环境条件内容较多且分属不同的类型，为了便于 的贯彻，GB/T12085根据环境条件的类型拟分为15个部分。 一第1部分：术语、试验范围。目的在于统一环境试验方法的术语和定义、试验程序及环境试验 标记。 第2部分：低温、高温、湿热。目的在于研究试样的光学、气候、机械、化学和电气（包括静电） 等特性受到温度和湿度影响的变化程度。 第3部分：机械作用力。目的在于研究试样的光学、气候、机械、化学和电气（包括静电）等特 性受到机械作用力影响的变化程度。 第4部分：盐雾。目的在于对仪器表面和保护涂（镀）层抵抗盐雾的能力进行评估。 第6部分：砂尘。目的在于研究试样的光学、气候、机械、化学和电气（包括静电）等特性受到 砂尘影响的变化程度。 第7部分：滴水、淋雨。目的在于研究试样的光学、气候、机械、化学和电气（包括静电）等特性 受到滴水、淋雨影响的变化程度。 第8部分：高内压、低内压、浸没。目的在于研究试样的光学、气候、机械、化学和电气（包括静 电）等特性受到环境气体高压、低压或浸没影响的变化程度。 第9部分：太阳辐射与风化。目的在于研究试样的光学、气候、机械、化学和电气（包括静电） 等特性受到太阳辐射或风能（太阳照射、湿热）影响的变化程度。 第11部分：长霉。目的在于研究试样的光学、气候、机械、化学和电气（包括静电）等特性受到 长霉的影响程度，以及评估霉菌代谢产物（比如酶或酸性物质）导致对零件的腐蚀程度或引起 线路板的短路等严重程度。 第12部分：污染。目的在于研究仪器，尤其是仪器的表面、涂层或合成材料短时间内暴露在 试剂中的抵抗能力。 第14部分：露、霜、冰。目的在于研究试样的光学、气候、机械、化学和电气（包括静电）等特性 受露、霜、冰的影响的程度。 第17部分：污染、太阳辐射综合试验。目的在于研究仪器，尤其是仪器的表面、涂层或合成材 料短时间内受试剂腐蚀及太阳辐射的抵御能力。 第20部分：含二氧化硫、硫化氢的湿空气。目的在于研究试样的光学、气候、机械、化学和电 气（包括静电）等特性受二氧化硫或硫化氢的影响。 第22部分：低温、高温或温度变化与碰撞或随机振动综合试验。目的在于研究试样的光学， 气候、机械、化学和电气（包括静电）等特性受到综合低温、高温或温度变化与碰撞或随机振动 的影响的变化程度。 第23部分：低压与低温、大气温度、高温或湿热综合试验。目的在于研究试样的光学、气候、 机械、化学和电气（包括静电）等性能特性受到综合低压和低温、常温或高温的影响程度。
光学和光子学环境试验方法 第22部分：低温、高温或温度变化与 碰撞或随机振动综合试验
本文件描述了光学和光子学低温、高温或温度变化与碰撞或随机振动综合试验的环境试验方法 本文件适用于光学和光子学仪器以及来自其他领域的组件（如机械、化学和电子设备）的低温、 温度变化与碰撞或随机振动综合试验
GB/T12085.1界定的术语和定义适用于本文件
在综合作用力条件下，对暴露的试样进行的试验，要比前述任何示例环境条件试验更为严酷。施加 的综合低温、高温或温度变化和碰撞或随机振动应力条件应与实际使用条件相符合。寿命试验时，为了 缩短试验时间，激发损伤，采用严醋程度较高等级的综合试验方法，如老化、磨合或环境应力筛选。 老化、磨合或环境应力筛选是对光学和光子学仪器以及包含光学部件和电子组件的试验方法。在 系统关机或开机、运转、贮存、运输或其他温度循环状态下，该方法综合正弦或随机振动和过压或电压不 足时运转的试验。 上述综合试验方法适用于早期发现潜在故障，并在交货前排除。综合试验方法的选择并不统一，宜
GB/T12085.222022
对产品效果而选择不同的应力要素（见附录A）。 表1中规定的温度值按照GB/T12085.2，条件试验方法10、11和14。 表1中规定的机械载荷值见GB/T12085.3，条件试验方法31和37。 表1列出条件试验方法10、11或14和条件试验方法31或37的组合 试验应按GB/T12085.3的要求进行。 固定试样的装置应符合GB/T2423.43的要求，且应进行隔热。 若试样安装在缓冲器上，则应注意缓冲器元件恒温的时间。 本文件中，加速度g值取整数10m/s。
针对产品效果而选择不同的应力要素（见附录A）。 表1中规定的温度值按照GB/T12085.2，条件试验方法10、11和14。 表1中规定的机械载荷值见GB/T12085.3，条件试验方法31和37。 表1列出条件试验方法10、11或14和条件试验方法31或37的组合。 试验应按GB/T12085.3的要求进行。 固定试样的装置应符合GB/T2423.43的要求，且应进行隔热。 若试样安装在缓冲器上，则应注意缓冲器元件恒温的时间。 本文件中，加速度g值取整数10m/s
若进行温度变化测试，则所需要的暴露时间从温度变化开始时启动。试样和试验箱（室）温度应 相同。 光学和光子学仪器试验应采用半正弦脉冲。试样应沿每个轴向每一方向经受1000次冲击，或确 定具体的冲击次数。 随机振动用数字控制的方式进行。加速度功率谱密度应采用按GB/T2423.56的振动控制系统进 行控制。 其他参数如低温或高温、温度变化，随机振动类型、温度暴露时间、振动暴露时间、冲击次数、冲击重 复频率、冲击或振动轴、运行状态等，应在相关规范中规定。
5.2条件试验方法22：低温、高温或温度变化与碰撞或随机振动
22:低温、高温或温度变化与碰撞或随机振动的产
试验应按相关规范的要求进行。
5.2低温和高温试验顺序
6.3温度变化试验顺序
首次温度周期从环境大气温度开始。一个循环的持续时间7h～8h，其取决于所需的严酷等级，与 循环过程的温差无关。试验箱（室）的平均致热或致冷速率应注意试样温度的连续变化（见图1）或应在 相应的规范中规定。 注：GB/T12085.2条件试验方法规定了试验箱（室）温度变化率在0.2K/min～2K/min的范围。然而，较高的温 度变化率是否合适，需要根据具体情况而定。实践表明1K/min～10K/min的温度变化率是合适的。 试验中，试样可在试验箱（室)内重新安置，以便试样能在大气环境温度和试验箱（室）温度之间的任 何温度下，沿另一轴进行冲击或振动，但不应出现凝露、霜或冰。
对子电控操 他功能如冷却、加热和 设备控
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2014年二级建造师《建筑工程》真题及答案相关规范应包含以下内容： a) 环境试验标记； b) 温度暴露时间； c) 试验箱（室)温度变化率； d) 温度停留时间； e) 温差； f) 温度周期数； g) 振动暴露时间； h) 冲击次数； i) 冲击重复频率； j) 冲击轴及方向； k) 工作状态； 1) 试样数；
m）与综合试验相关的湿度； n）预处理； 初始试验的类型和范围； p）工作状态2：工作周期； ）*工作状态2:中间试验的类型和范围； r）恢复； s）最终试验的类型和范围； t）：评价标准； u）试验报告的类型和范围
GB/T12085.222022
A.1此类试验结果多年的统计数据表明，该类试验为评估仪器损坏概率提供了一个相对经济的方法。 A.2仪器研发阶段，有助于从仪器可靠性及维护方面优化材料、元件及组件选择，早期发现长期使用后 可能存在的隐患。在该阶段，适合于对材料、元件及组件进行试验，而不是试验整台仪器。由于大量的 试验，尤其在生产初期（小批试产）阶段，有助于发现部件缺陷并消除部件缺陷。减少长期使用后预期的 故障概率，提高仪器的质量和可靠性。 A.3本文件也可用于生产的监控检测。同样，对于部件及整机装配，可及早发现与生产相关的缺陷或 力学、电学及光学特性的误差皖94J104 GRC定向增强蜂巢式隔墙板.pdf，从而提高生产质量。 A.4从A.2和A.3的试验结果，可推断出仪器的特定耐久性条件，以消除早期故障及老化。
A4.2仪器研发阶段，有助于从仪器可靠性及维护方面优化材料、元件及组件选择，早期发现长期使用后 可能存在的隐患。在该阶段，适合于对材料、元件及组件进行试验，而不是试验整台仪器。由于大量的 试验，尤其在生产初期（小批试产）阶段，有助于发现部件缺陷并消除部件缺陷。减少长期使用后预期的 故障概率，提高仪器的质量和可靠性。 A.3本文件也可用于生产的监控检测。同样，对于部件及整机装配，可及早发现与生产相关的缺陷或 力学、电学及光学特性的误差，从而提高生产质量。 A.4从A.2和A:3的试验结果，可推断出仪器的特定耐久性条件，以消除早期故障及老化，
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