GB／T 12085.5-2010 标准规范下载简介

GB／T 12085.5-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第5部分：低温、低气压综合试验.pdf简介：

GB/T 12085.5-2010 是中国国家标准，全称为《光学和光学仪器 环境试验方法 第5部分：低温、低气压综合试验》。该标准规定了光学和光学仪器在低温和低气压环境下进行综合试验的方法和步骤。低温试验是指将设备或样品暴露在低于正常工作温度的环境中，以测试其在极端低温条件下的性能稳定性；低气压试验则是通过降低环境压力，测试设备或样品在低气压环境下的性能及抗压能力。

这个标准主要用于评估光学和光学仪器在极端环境条件下的耐受性，如航天、深海、极地等应用场合，确保设备在这些特殊环境下能够正常工作。试验过程可能包括温度的快速下降或上升、稳定的低温保持、气压的逐步降低等步骤，以模拟真实环境中的极端情况。

在进行此类试验时，需要严格遵守标准中规定的试验程序和安全规定，以保证试验的准确性和设备的安全。同时，试验结果将用于判断产品是否满足设计要求，是否适合在特定环境下使用。

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中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会

GB/T12085.52010

GB／T 25370-2020 铸造机械 术语.pdfGB/T 12085.5=2010

光学和光学仪器环境试验方法 第5部分：低温、低气压综合试验

光学和光学仪器环境试验方法

弯5部分：低温、低气压综合试验

3.1试验箱（室）必须是空气流通的低气压或是高空模拟试验箱（室），它可以是低温、低气压的综合试 验箱（室），也可将低气压箱放在低温室中。试验箱（室）的大小及试样安放的位置，应能保证所有试样都 处于均匀的环境条件下。 3.2在试验箱（室）内，试样需先达到规定的试验温度，然后再把箱内压力降到有关标准的规定值。 3.3按条件试验方法51（见4.2)进行试验时，在升压期间，可用高纯氮气或对试样辐射加热方法，避免 试样上产生结霜和凝露。 3.4试验箱（室）内的温度和气压的变化应缓慢进行，以免引起试样的损坏。 3.5试样的各个部分都达到试验箱（室）的温度士3℃之内和气压达到规定值时暴露周期开始。散热 试样应冷却到试验温度，在温度稳定的试验箱（室)中试样的温度变化在1h内不大于士1℃时，开始降 低气压。在降压过程中，允许试样自身发热，直到试验压力达到规定值时作为暴露时间开始。暴露结束 后压力和温度的升高同时开始，箱（室）内空气和试样的温度都应测量。温度传感器在试样上的位置应 在有关标准中规定，用来测量箱（室）内空气温度的温度传感器的位置应在试验报告中说明。 3.6按条件试验方法50进行试验后，试样在压力升高过程中产生结霜和凝露的方法应在相关标准中 规定，可在下述方法中选用： a）在低气压条件下凝露的形成 在温度为一20℃～一10℃范围内和气压为40kPa以上的低气压范围内，在加热过程中将水蒸气

在温度为一20℃～一10℃范围内和气压为40kPa以上的低气压范围内CJJ∕T 137-2019 生活垃圾焚烧厂评价标准，在加热过程中将水蒸气 注人试验箱（室）内。 b）在标准环境压力条件下凝露的形成 在加热期间，试验室内的压力调到标准的环境压力，而温度仍保持在一20℃～一10℃之间，由于 低温使水分凝结在试样上

4.1条件试验方法50：包括霜和露的低温、低气压综合试验 条件试验方法50包括霜和露的低温、低气压综合试验的严酷等级按表1。 4.2条件试验方法51：不包括霜和露的低温、低气压综合试验 条件试验方法51不包括霜和露的低温、低气压的综合试验的严酷等级按表1中01、02、03、04、06、

条件试验方法51不包括霜和露的低温、低气压的综合试验的严酷等级按表1中01、02、03 07的规定。

条件试验方法50的试验程序参见附录A

a）环境试验标记； b) 试样数量； c）条件试验方法50结霜的起始时间和产生方法； ) 温度传感器在试样上的位置； e） 预处理； f) 初始检测的内容和范围； g） 工作状态2工作周期的确定； h) 工作状态2中间检测的内容和范围； D 恢复； ) 最后检测的内容和范围； 评价判据； 12 试验报告的内容和范围

GB/T12085.52010

《多高层木结构建筑技术标准 GB/T51226-2017》附录A （资料性附录） 条件试验方法50试验程序示例

A.2条件试验50示例

A.2.8应注意除散热元件外，试样上需保持湿润，以免在中间检测中发生于。