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JB/T 13536-2018 电磁屏蔽吸波材料磁导率测试方法.pdf简介:
"JB/T 13536-2018 电磁屏蔽吸波材料磁导率测试方法.pdf"是一份中国国家标准的技术文件。这份文件详细规定了如何对电磁屏蔽吸波材料的磁导率进行科学、准确的测量。磁导率是描述材料对磁场响应能力的物理量,对于电磁屏蔽材料而言,其磁导率的测量直接影响到材料的屏蔽性能,如对于电磁干扰的抑制效果。
在PDF文件中,可能会包含磁导率测试的方法步骤、测量设备的要求、数据处理和结果判定的标准等信息,包括但不限于样品的制备、测量环境的控制、测试过程中的注意事项、以及如何根据测试结果评估材料的性能等。这份标准确保了电磁屏蔽吸波材料的磁导率测试具有可重复性和一致性,对于材料的生产和质量控制具有重要的指导意义。
JB/T 13536-2018 电磁屏蔽吸波材料磁导率测试方法.pdf部分内容预览:
中华人民共和国工业和信息化部发布
中华人民共和国工业和信息化部发
JB/T 135362018
JB/T135362018
《可燃性气体探测用电气设备 第3部分:显示空气中甲烷体积含量至100%的I类探测器的性能要求 GB/T 20936.3-2009》本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本标准由中国机械工业联合会提出。 本标准由全国电磁屏蔽材料标准化技术委员会(SAC/TC323)归口。 本标准起草单位:中国兵器工业集团第五三研究所、上海市计量测试技术研究院、深圳市飞荣达科 技股份有限公司、昆山市中迪新材料技术有限公司。 本标准主要起草人:于名讯、郭宇、蔡青、左建生、桑昱、王明、郭东朋、刘伟德、张昆、刘永 峙、王雯、刘玉凤、连军涛、***、陆福敏、来磊、陈超婵、缪轶、朱建刚。 本标准为首次发布。
JB/T135362018
磁屏蔽吸波材料磁导率测试方
本标准规定了电磁屏蔽吸 设备仪器、试样要求、测试步骤。 本标准适用于1MHz 的磁导率测试方法
测试流程如图1所示。
测试条件应满足以下要求: a)环境温度:23℃±5℃; b)环境相对湿度:20%~80%; c)测量过程中,测量样品不应受到机械方法冲击、振动及磁性于扰的影响。
测试条件应满足以下要求: a)环境温度:23℃±5℃; b)环境相对湿度:20%~80%; c)测量过程中,测量样品不应受到机械方法冲击、振动及磁性于扰的影响。
仪测试频段、特征阻抗以及测试原理应满足以下
JB/T135362018
a)测试频段为1MHz~1GHz,特征阻抗为502; b)测试原理见附录A。
测试夹具具体尺寸如图2所示,夹具应满足以下要求: a)夹具适用频率范围:1MHz1GHz; b)样品托大小满足被测样品测试工作。
包括“开路”“短路”“负载50Q”“低损耗电容器”校准件
精度优于0.02mm
试样应满足以下要求: a)单线圈结构的夹具可放置圆柱形样品; b)样品尺寸应与夹具大小吻合,对样品尺寸具体要求为:外径为(18士0.5)mm,内径为(6土 0.5)mm,厚度为(0.5~8.5)mm; c)磁导率测量前试样应在与测试环境相同的环境下放置24h。
试样应满足以下要求: a)单线圈结构的夹具可放置圆柱形样品; b)样品尺寸应与夹具大小吻合,对样品尺寸具体要求为:外径为(18士0.5)mm,内径为( 0.5)mm公路—I级桥面宽度26.8m单索面预应力混凝土斜拉桥(计算书、CAD图),厚度为(0.5~8.5)mm; c)磁导率测量前试样应在与测试环境相同的环境下放置24h。
按图3所示连接设备,预热0.5h以上。
使用游标卡尺测量样品厚度、内径和外径
测试参数按以下要求设置: a)设置扫描的点数以及扫描方式; b)选择电流模式; c)频率在1MHz~1GHz
JB/T135362018
在测试工作开始之前要进行校准,校准过程包括自校与补偿两个部分。 自校包括“开路”“短路”“负载502”以及“低损耗电容器”校准四部分。 补偿即是将所需测试夹具安装到阻抗分析仪测试台上并进行夹具的短路校准工作
GB∕T 50975-2014 铀浓缩工厂工艺水管道工程施工及验收规范JB/T135362018
本测试方法使用阻抗分析仪测试电磁屏蔽吸波材料的磁导率,磁导率表达式如公式(A.1)所示。 测试时将待测样品放入短路同轴腔,通过计算样品放入短路同轴腔前后的自感之差和损耗电阻之差,按 公式(A.2)、公式(A.3)分别计算磁导率的两个分量μ和,按公式(A.4)计算磁损耗正切。
式中: μ一一复数磁导率的实部; 一一复数磁导率的虚部; AL一一样品放入短路同轴腔前后的自感之差,单位为亨(H); l。一—磁回路平均长度,单位为米(m); Ho——真空磁导率,Mo=4元×10"H/m; A。—磁芯有效截面积,单位为平方米(m²); AR一一样品放入短路同轴腔前后的损耗电阻之差,单位为欧 复数磁导率的两个分量μ和"可以直接在阻抗分析仪测试界面