标准规范下载简介

WS 76-2020 医用 X 射线诊断设备质量控制检测规范.pdf简介：

"WS 76-2020 医用 X 射线诊断设备质量控制检测规范.pdf"是一个关于医用X射线诊断设备质量控制的检测标准。WS（卫生标准）是中国卫生部发布的一项技术规范，其编号为76-2020，主要针对的是医疗领域内的X射线设备，这些设备在临床诊断中起着关键作用，如CT扫描、X光机等。该规范详细规定了这些设备的性能要求、检测方法、质量控制流程和维护标准，旨在确保医用X射线设备的稳定性能、安全性和准确性，以保护患者和医疗人员的健康。它不仅适用于设备的生产和使用，也适用于设备的定期检查和维护，是医疗设备管理的重要参考文件。

WS 76-2020 医用 X 射线诊断设备质量控制检测规范.pdf部分内容预览：

3.1.1使用聚焦滤线栅申心对准测试板（参见附录K申图K.4）及两块能同时覆盖四个大孔区域的小 铅板进行测量。 8.1.2将测试板放在诊断床上，使其长轴与诊断床的长轴垂直，中心孔对准床的中心（参见附录K中 图K.5）。 8.1.3调节SID与聚焦滤线栅的聚焦距离一致。用两块小铅板盖住两边的四个大孔。将照射野的中心 对准中间的大孔。用适当的条件进行曝光，使冲洗后的圆孔区域影像的光密度为1.0OD～2.0OD。 3.1.4在垂直于床中心线的方向移动X射线管，逐个改换照射野申心所对准大孔的位置，用铅板覆盖 其余大孔，以同样的条件进行曝光。 3.1.5冲洗胶片后测试五个大孔影像的光密度，如中心孔影像光密度最高，两侧各孔影像光密度对称 分布，可以认为聚焦滤线栅中心对准；如两侧光密度不对称，但偏离小于13mm，这时判为无明显不对 。如中心孔影像的光密度低于其旁边的孔，则判为明显不对准，

2X射线摄影（DR）设备专用检测项目与检测方

9.1探测器剂量指示（DDI

9.1.1如果有可能，取出滤线栅。设置SID为180cm，如达不到则调节SID为最大值。 9.1.2调整光野完全覆盖影像接收器，用1.0mm铜滤过板挡住限束器出束口，设置70kV，对影像接 收器入射空气比释动能选取参考剂量约10μGy进行曝光，记录DDI的数值。在上述相同的条件下重复 爆光3次，记录DDI数值，计算平均值。 9.1.3验收检测时，根据生产厂家提供DDI公式进行验证，比较记录的DDI平均值与公式计算值之间 的相对偏差。 9.1.4如果厂家未提供DDI值与入射空气比释动能计算公式，则将验收检测中获得DDI平均值作为基 线值；如果DR设备没有DDI的指示，则获取9.1.2中每一幅预处理影像中央面积约10cm×10cmR0I 像素值，并计算三幅影像平均像素值并建立基线值。 9.1.5状态检测时，根据生产厂家提供DDI公式进行验证，比较记录的DDI平均值与公式计算值之间 的相对偏差。如果厂家未提供DDI值与入射空气比释动能计算公式，则与设备的基线值进行比较。

DB∕T 29-111-2019 埋地钢质管道阴极保护技术规程9.2信号传递特性（STP）

9.2.1如果有可能，取出滤线栅。设置SID为180cm，如达不到则调节SID为最大值。 9.2.2调整照射野完全覆盖影像接收器，用1.0mm铜滤过板盖住限束器出束口，设置管电压为70kV， 分别选取影像接收器入射空气比释动能约1μGy、5μGy、10μGy、20μGy和30μGy进行曝光，获 取每一幅预处理影像。 9.2.3在每一幅预处理影像中央选取面积约10cmX10cmROI，获取每幅影像RO0I的平均像素值。 9.2.4以平均像素值为纵坐标，影像接收器入射表面空气比释动能值为横坐标进行拟合： a）对于线性响应的系统，拟合直线，计算相关参数R； 对于非线性响应的系统（比如对数相关或指数相关），拟合对数曲线或指数曲线，计算相关参 数R。

9.2.2调整照射野完全覆盖影像接收器，用1.0mm铜滤过板盖住限束器出束口，设置管电压为70kV，

9.3.1选取9.1中的预处理影像，使用分析软件在影像中选取五个面积约4cmx4cmR0I，分别获取像 素值，要求ROI分别从影像中央区和四个象限中央区各取一个，记录每个选点实测像素值。

注：以上公式中，K为入射空气比释动能，单位为微戈瑞（uGy）；PV为像素值；a、b、c为拟合公式进行变换后得 到的常数。 9.3.3按式（8）计算 5个点剂量值的变异系数：

式中： CV——变异系数，%; ——5个ROI 的剂量值; V.—第；次测量 ROI 的剂量值。

式中： CV—变异系数，%； ——5个ROI 的剂量值; V.——第;次测量ROI 的剂量值。

9.4.1设置SID为180cm，如达不到则调节SID为最大值。 9.4.2选用两把带有毫米级刻度的铅尺，相互垂直放置在影像接收器表面中央，用适当条件进行曝光， 获取一幅影像。 9.4.3用测距软件对水平和垂直两个方向上的铅尺刻度不低于100mm的影像测量距离（D），与真实 长度（D）进行比较。如果铅尺不能放置在影像接收器表面，应把铅尺放置患者床面中央，获得影像应 故距离校正。 9.4.4评价：按式（9）计算测量距离与真实长度的相对偏差：

式中： E一相对偏差； Dm一影像测量距离，单位为毫米（mm） D真实长度，单位为毫米（mm)。

9.5.1如果有可能，取出滤线栅。设置SID为180cm，如达不到则调节SID为最大值。 9.5.2关闭限束器，再用一块面积15cm×15cm，厚2mm的铅板完全挡住限束器出束口，设置最低管 电压和最低管电流进行第1次曝光，获取一幅空白影像。 9.5.3打开限束器取走铅板，在影像接收器表面中央部位放置一块面积4cm×4cm，厚4mm的铅块 在70kV、1mmCu滤过和影像接收器入射空气比释动能约5μGv进行第2次曝光。

9.5.4使用70kV、1mmCu滤过，影像接收器入射空气比释动能约1μGy曝光，获得一幅影像，这次 爆光应在第2次曝光后1.5min内完成， 9.5.5调整窗宽和窗位，在工作站显示器上目视观察第3次曝光后的影像中不应存在第2次曝光影像 中残影。若发现残影，则利用分析软件在残影区和非残影区各取相同的ROI面积获取平均像素值，残影 区中平均像素值相对非残影区中平均像素值的误差应≤5.0%。

9.6.1设置SID为180cm，如达不到则调节SID为最大值。 9.6.2将屏片X射线摄影密着检测板放在影像接收器上面，在60kV和约10mAs进行曝光，获取一幅 预处理影像。 9.6.3在工作站显示器上观察影像，适当调整窗宽和窗位，通过目视检查影像接收器的影像不应存在 影响临床诊断的伪影， 9.6.4如果发现伪影，检查伪影随影像移动或摆动情况，若伪影随影像移动或摆动表示来自影像接收 器，不移动则表示来自显示器。应记录和描述所观察到的伪影情况

影响临床诊断的伪影。 9.6.4如果发现伪影，检查伪影随影像移动或摆动情况，若伪影随影像移动或摆动表示来自影像接收 器，不移动则表示来自显示器。应记录和描述所观察到的伪影情况

9.7.1如果有可能，取出滤线栅。设置SID为180cm，如达不到则调节SID为最大值。 9.7.2取一块高对比度分辨力测试卡，放置在影像接收器表面或最接近于影像接收器表面的位置，并 与其面呈45°放置。 9.7.3按生产厂家给出条件进行曝光。如生产厂家未给出条件，选用适当曝光条件（如60kV和约3mAs） 进行曝光。 9.7.4调整窗宽和窗位，使其分辨力最优化。从显示器上观察出最大线对组数目，或者打印出胶片并 观察。

9.8.1选择适当的低对比度分辨力检测模体（参见附录M），模体中同一直径的低对比度细节数不宜 少于10个。将低对比度分辨力检测模体放置在影像接收器表面中间位置或最接近于影像接收器的位置 9.8.2根据模体说明书要求，选择适当的管电压、滤过和SID，照射野完全覆盖住影像接收器，进行 爆光。 9.8.3以入射空气比释动能约5μGy对影像接收器曝光，获取影像。 9.8.4在观片灯箱上或工作站显示器上观察影像细节，调节窗宽和窗位使影像细节显示成最清晰状态， 安模体说明书要求，观察和记录模体影像中可探测到最小细节。 9.8.5验收检测按检测模体说明书要求判断并建立基线值。状态检测与基线值进行比较，不得超过基 线值的两个细节变化

算机X射线摄影（CR）设备专用检测项目与检测

10. 1IP 暗噪声

10.1.1检测前对选用的IP进行1次擦除处理。 10.1.2随机选三块IP放入阅读器中，用生产厂家提供的IP处理条件（参见附录D中表D.2）对每块 [P读取，获得三幅影像。 10.1.3读取每块IP的指示值，其值应在生产厂家的规定值范围内，参见附录D中表D.2。

10.1.4在显示器上观察原始全野影像应清晰、均匀一致一套私人别墅施工图，无伪影

10.2探测器剂量指示（DDI）

10.2.1设置SID为180cm，如达不到则调节SID为最大值。 10.2.2任选三块不同尺寸（类型）的IP，分别用80kV、0.5mmCu和1mmA1滤过，选择入射空气比释 动能约10μGy的曝光条件对每一块IP曝光，每次曝光后保持相同的延迟时间读取。 10.2.3用生产厂家提供的IP处理条件（参见附录D中表D.2）对每块IP读取，获得三幅影像，获取 CR设备的剂量指示所显示的读数值。 10.2.4利用生产厂家提供的计算公式（参见附录D中表D.1），计算IP曝光后的响应空气比释动能A 10.2.5参考式（9）的形式，计算每块IP测量空气比释动能（K测量）与响应空气比释动能（K响应）的 相对偏差。 10.2.6每块IP测量空气比释动能（K测量）与响应空气比释动能（K响应）的相对偏差应在土20%内。每 块IP响应值与三块IP的平均响应值之间的相对偏差应在土10.0%内。 10.2.7如果测量超过规定值，应采用生产厂家设定的IP探测器剂量指示曝光／读取条件（参见附录 中表D.2）重新进行检验。

10.3IP 响应均匀性

10.3.1设置SID为180cm，如达不到则调节SID为最大值。 0.3.2任选一块常用的IP，调整光野完全覆盖IP暗盒，采用80kV、0.5mmCu和1mmA1滤过DB31／T 540.2-2011标准下载，选择 入射空气比释动能约100μGy的曝光条件分别对IP曝光，每次曝光后保持相同的延迟时间读取。 10.3.3用生产厂家提供的IP处理条件（参见附录D中表D.2）对每块IP读取并获得影像。 0.3.4IP应完全置于X射线束中均匀曝光，并保持重复的放置和相同取向。如果出现明显足跟效应， 将IP旋转180°方向各使用一半的入射空气比释动能进行2次曝光， 10.3.5在工作站对每一幅影像中选中央和四个象限的感兴趣区（R0I）获取五个平均像素值，选取的 各感兴趣区面积应大致相同，或者用胶片光密度计分别测量每幅影像的中央区和四个象限区中心点光密 度，获取并记录五个点光密度值。 0.3.6对单幅影像五个点计算平均光密度值或五个影像感兴趣区的平均像素值，所有单点测量值在五 点的平均值的土10.0%内一致，则单一IP的响应均匀性良好

10. 4IP响应一致性

D.4.1任选三块相同尺寸的的IP。 0.4.2测量过程同10.3。 0.4.3计算单块IP的五个感兴趣区平均像素值的平均值。该平均值在三块IP总平均值的±10.（ 致，则三块IP的一致性良好。