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T／CSTM 00214-2020 无损检测 超声检测凸曲面斜入射试块的制作与检验方法.pdf简介：
"T/CSTM 00214-2020 无损检测 超声检测凸曲面斜入射试块的制作与检验方法.pdf" 是一份标准文档，它详细描述了在无损检测中，特别是在超声检测技术中，针对凸曲面斜入射试块的制作过程以及相应的检验方法。这份标准可能涵盖了试块的材料选择、几何参数设定、制作工艺、检测设备选择、测试步骤、数据处理和结果分析等方面的技术要求和操作指南。
凸曲面斜入射试块通常用于评估超声检测设备在检测复杂工件如管道、容器或结构件时的性能，因为这些表面可能具有曲率和斜入射角度，对检测技术有特殊要求。这份标准的发布，旨在确保超声检测的精度和一致性，以保证检测结果的可靠性。
对于实际应用，这份标准可能被无损检测工程师、检测设备制造商、检验机构和相关行业使用，以指导他们进行专业的超声检测工作。
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中关村材料试验技术联盟
T/CSTM 002142020
范围 规范性引用文件 3术语和定义 4尺寸 5材料.. 6制备 7标记 使用方法小区商住楼工程施工组织设计， n 9证书 附录A（规范性附录）校准试块的特性和用途 附录B（资料性附录）本标准起草单位和起草人
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本部分参照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 青注意本文件的某些内容有可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。 本标准由中国材料与试验团体标准委员会无损检测技术及设备领域委员会（CSTM/FC94）提出 本标准由中国材料与试验团体标准委员会无损检测技术及设备领域委员会（CSTM/FC94）归口
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超声波检测的凸曲面斜入射试块称为脚跟试块（或称3号校准试块），由系列试块组成，并且几何形状 更简单。 脚跟试块不提供试块广泛的应用范围，尤其不能用于对超声探伤仪的全面校验。 但是在实际凸曲面检测中，可以随时用脚跟试块对超声检测设备的时基线和灵敏度设置进行简单的校 验。此外，它也适用于对斜探头曲面检测的入射角和入射点的校验。
T/CSTM 002142020
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本标准规定了凸曲面斜入射试块的尺寸、材料、制造以及用它对超声检测设备进行校准和校验的使用 方法。 本标准适用于空心类锻件、管件或棒类件等的周向方向斜入射超声波探伤水平、垂直、声程的精确定 位。本标准提供了一种可以对周向 声速及零点标定的方法
12604.1和GB/T20737界定的术语和定义适用于
4.1.1凸曲面检测的角度、声速及零点标定试块，其厚度不小于25mm（推荐25mm），宽度为W=2R，高 度为H=R+60，横通孔直径为3mm。 4.1.2半圆形侧面的角度长刻线位置P的计算公式：P=RSin（β）；其中β为20°、30°、40°、50°、 60°、70°、80°。 1.1.3角度短刻线位置P的计算方法同角度长刻线，短刻线分别为25°、35°、45°、55°、65°、75 角度刻线位置P参数见表1示例，粗糙度Ra≤3.2μm，标准试块制作参数示例见表2。 4.1.4图1给出了试块的尺寸。图中R半径允许小于50mm，或大于400mm，表中R的数值仅为推荐参数。
表1半圆形侧面的角度刻线位置制作参数
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表2标准试块制作参数
图1超声检测用脚跟试块的尺寸与刻度
20=典型钢种标号； A=角度，V=声速，Z=零点； 0150=150，试块半圆半径，单位mm； 如：FB150 F=脚跟，B=试块 FB=脚跟试块；
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制作试块的钢材应具有下列特性： 一用平炉或电炉生产的低碳镇静钢； 一正火状态； 晶粒度不低于6级。
制作试块的钢材应具有下列特性： 一用平炉或电炉生产的低碳镇静钢 正火状态； 一晶粒度不低于6级。
5.1校准试块的材质应均匀，且经超声检测无缺陷（见附录A中A.2） 5.2为获得细晶组织和良好的材质均匀性，在最终机加工前应将试块按以下方式进行热处理： a）以920℃的温度保温30min，并用水淬冷； b)再加热到650℃至少保温2h，然后在静止空气中冷却。 6.3热处理后机加工前，应从两个相互垂直的方向，并沿轧制方向对试块做进一步的超声检测。热处理 后，所有表面应至少去除2mm。所有尺寸和表面粗糙度应符合图1要求。 5.4为了防止附加效应的产生，刻度槽的深度应为0.1mm士0.05mm；刻度槽的长度应为6mm，并且其位 置公差为士0.2mm。机加工完成后应进行最终超声检测。 6.5试块的纵波速度应为5920m/s士30m/s，横波速度应为3255m/s士15m/s
脚跟试块上应按图1做永久性参考标记： 生产商商标； 一本标准号： 一唯一的序列号。
调节时基线时，应将相继回波的前沿（左侧边）调整到与仪器屏幕对应的刻度相一致。脉冲传播时间取 决于被检材料中的超声波波速。
直探头校准不大于250m
探头在校准试块反射面上的放置位置应按图2a）的示意；校准范围为100mm时荧光屏（A扫描）上的显示 应按图2b）示意图 注：当校准距离大于10倍的试块厚度时可能会出现困难，这取决于所用的探头和频率
a）探头在校准试块上的位置
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图2用直探头校准不大于250mm的时基线
探头校准不大于250mm
曲面斜探头校准RCos（β）+30或RCos（β）+60的时基线 检测斜探头在校准试块上的位置按图3a）（用于RCos（β）+30校准距离）和图3b）（用于RC 0校准距离）。图3a)和图3b）也给出了这两种校准范围的仪器荧光屏显示示意图
8.2灵敏度设置和探头校验
多因素会影响灵敏度设置（见附录A中A.3）
a）用于RCos（βB）+30校准范围
b）用于RCos（β）+60校准范围 图3曲面检测斜探头在校准试块上的位置
图3曲面检测斜探头在校准试块上的位置
探头应置于图4a）所在的位置。灵敏度的设置应以A扫描中显示的连续回波作为参考基准。也可将探
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8.2.3.1灵敏度设置
图4直探头灵敏度设置
分别利用声程为RCos（β）+30和RCos（β）+60的两个反射面进行灵敏度设置。校验探头时 个重要因素，当进行探头之间的比较时，应使用相同的耦合介质。 a)使用经校准的增益调节器，先将来自于反射面的回波调到屏幕高度的80%，然后再将其调 的水平。 b)不用增益调节器，利用来自于圆周面的单次回波调节灵敏度（见图5、图6)
8.2.3.2曲面探头入射点位置的测定
图5曲面检测斜探头不用增益调节器进行灵敏度设置
曲面检测斜探头不用增益调节器进行灵敏度设
曲面斜探头应按图7放置，并在校准试块倒角2mm或1mm上前后移动，直到来自于倒角面的 度达到最大。 时探头入射点与试块上倒角的中心重合。
3.2.3.3声束角度的测定
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用间隙的矩形槽面或试块底面的回波测定声束角度。将曲面斜探头在校准试块圆周面上平行移动，直 到来自于矩形槽面或试块底面的反射回波幅度达到最大。声束角度可以直接从校准试块上与探头入射点重 合的刻度值上读得，当探头入射点与刻度线不重合时也可以采用插值法获取。图8所示的这些位置可用于 测定20°至80°的曲面斜探头。
对于每一块试块，制造商都应发布一份证书以说明： a）该试块符合本标准； b）所测得的纵波声速平均值：V1： c）所测得的横波声速平均值：Vs
图7曲面斜探头入射点测定
图8曲面斜探头声束角度测定
“非小型”探头校准的试
A.2最终机加工前后的材料超声检测
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附录A （规范性附录） 校准试块的特性和用途
用纵波探头（晶片直径10mmJTJ 003-1986 公路自然区划标准，频率6MHz）进行两次检测： a）将探头按图2a)放置，第四次底面回波的波幅应比后面出现的、由晶粒结构产生的噪声高出至少 50dB。 b）在材料均匀性方面，不应有波幅大于晶粒散射波幅的缺陷
A.3设置灵敏度需考虑的因素
设置灵敏度时宜考虑下列因素，它们可分为四大类： a）设备：脉冲能量、频率、脉冲波形、放大率等； b）所用探头：种类、尺寸、声阻抗、晶片阻尼、声场极值分布图等； c）被检材料：表面状态（与耦合有关)，材料种类(吸收性)等； d）缺陷分析：形状、取向、性质等。
设置灵敏度时宜考虑下列因素，它们可分为四大类： a）设备：脉冲能量、频率、脉冲波形、放大率等； b）所用探头：种类、尺寸、声阻抗、晶片阻尼、声场极值分布图等： c）被检材料：表面状态（与耦合有关)，材料种类(吸收性)等； d）缺陷分析：形状、取向、性质等
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DBJ 46-060-2022 西沙群岛珊瑚岛（礁）地区岩土工程勘察标准本标准负责起草单位：南京迪威尔高端制造股份有限公司。 本标准参与起草单位：中国特种设备检测研究院、山东瑞祥模具有限公司、钢研纳克检测技术股份有限公 司、常州超声电子有限公司、卡麦隆（上海）机械有限公司。 本标准主要起草人：陈昌华、张利、郑阳、侯金刚、魏忠瑞、马建民、范弘、张建卫、潘振新、肖潇、 尹述港、彭意豪。