标准规范下载简介
GB／T 21636-2021 微束分析 电子探针显微分析(EPMA) 术语.pdf简介：
GB/T 21636-2021《微束分析 电子探针显微分析(EPMA) 术语简介》是一部标准，它为电子探针显微分析(EPMA, Electron Probe Microanalysis)这一领域提供了一系列专业术语的定义和解释。EPMA是一种高精度的元素分析技术，主要用于微观尺度上的元素分布和定量分析，广泛应用于地质、矿物学、材料科学、考古学等多个学科领域。
在这部标准中，可能包括以下术语的定义：
1. 电子探针：一种精密的电子显微镜，其核心是电子束源，通过控制电子束的强度和能量，对样品进行非破坏性分析。 2. 微束分析：使用电子探针对样品进行点或线扫描，取得指定区域的元素分布信息。 3. 样品制备：对样品进行预处理的步骤，如切片、抛光、镀膜等，以确保电子束能准确地分析样品的表面。 4. 元素激发：通过电子束与样品原子相互作用，使样品原子产生X射线或俄歇电子，这些信号可用于元素的识别和分析。 5. 信号检测：通过探测器测量产生的X射线或俄歇电子，将其转化为电信号，然后进行数据处理和分析。 6. 分析模式：EPMA的不同工作模式，如Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence(WDXF)或Energy Dispersive X-ray Fluorescence(EDX)等，用于不同的元素检测和定量分析。 7. 精度和准确度：EPMA测量结果的可靠性和一致性，通常通过校准和质量保证程序来确保。
这部标准的发布，旨在统一和标准化EPMA领域的技术语言，提高科研人员之间的沟通效率，促进技术共享和应用。
GB／T 21636-2021 微束分析 电子探针显微分析(EPMA) 术语.pdf部分内容预览：
研究物质researchmaterial
试样稳定性specimenstability 《一般定义》试样在常温常压下，长期储存过程中物理化学性能保持不变的特性。 6.5.11 试样稳定性specimenstability
GB/T216362021/ISO23833.2013
6.5.13 不确定度uncertainty 表征合理地赋予被测量之值的分散性，与测量结果相联系的参数。 6.6 分析试样specimentobeanalysed 用EPMA测定成分和显微结构的试样。 6.6.1 块状试样bulkspecimen 试样尺寸超过所有可能产生X射线（由电子束产生初级X射线和由特征、连续X射线产生二次荧 光X射线）源的范围，不会由于X射线穿过试样底部或边缘非正常逃逸而受到损失。 6.6.2 荷电charging 由于缺少足够的对地导电路径，当试样受人射电子束轰击时其表面发生电荷积累的现象。 注：绝缘材料的高电阻可使导电路径不能建立，即使对诸如金属的导体材料，若不用导线或导电胶等建立试样到地 的导电路径，荷电仍可发生。 6.6.3 导电镀层 conductivecoating 镀层coating 一种覆盖到绝缘试样表面的低电阻材料（例如：铝，金，碳，铬等）薄涂层（一般厚度2nm～20nm）， 以提供电子束轰击时可能在表面积累的电荷的接地通道。 6.6.3.1 镀层假象 coatingartifact 由镀层材料特性所引起的试样结构和/或X射线谱的改变，这些改变可能干扰对真实试样细节的 解释。 6.6.3.2 导电层conductivelayer 分层试样中区别于其他非导电层或半导电层的高电导率层状区域。 6.6.4 污染contamination 试样表面由于所处环境、制样过程或暴露在试样室残余气体中而附着的外来物质。 6.6.4.1 碳污染carboncontamination 由于电子轰击试样表面污染物和/或真空系统的残余气体，碳和含碳物质在试样表面上的进行性 累积。 6.6.4.2 污染层contaminationlayer 沉积在试样上的外来物薄层。 665
6.5.13 不确定度uncertainty 表征合理地赋予被测量之值的分散性，与测量结果相联系的参数。 6.6 分析试样specimentobeanalysed 用EPMA测定成分和显微结构的试样。 6.6.1 块状试样bulkspecimen 试样尺寸超过所有可能产生X射线（由电子束产生初级X射线和由特征、连续X射线产生二次荧 光X射线）源的范围，不会由于X射线穿过试样底部或边缘非正常逃逸而受到损失。 6.6.2 荷电charging 由于缺少足够的对地导电路径，当试样受人射电子束轰击时其表面发生电荷积累的现象。 注：绝缘材料的高电阻可使导电路径不能建立，即使对诸如金属的导体材料，若不用导线或导电胶等建立试样到地 的导电路径，荷电仍可发生。 6.6.3 导电镀层 conductivecoating 镀层coating 一种覆盖到绝缘试样表面的低电阻材料（例如：铝，金，碳GB 50937-2013 选煤厂管道安装工程施工与验收规范，铬等）薄涂层（一般厚度2nm～20nm）， 以提供电子束轰击时可能在表面积累的电荷的接地通道。 6.6.3.1 镀层假象 coatingartifact 由镀层材料特性所引起的试样结构和/或X射线谱的改变，这些改变可能干扰对真实试样细节的 解释。 6.6.3.2 导电层conductivelayer 分层试样中区别于其他非导电层或半导电层的高电导率层状区域。 6.6.4 污染contamination 试样表面由于所处环境、制样过程或暴露在试样室残余气体中而附着的外来物质。 6.6.4.1 碳污染carboncontamination 由于电子轰击试样表面污染物和/或真空系统的残余气体，碳和含碳物质在试样表面上的进行性 累积。 6.6.4.2 污染层contaminationlayer 沉积在试样上的外来物薄层，
几何效应geometriceffects 由于试样尺寸与形状引起的试样X射线产生与/或传播的改变，而导致与成分变化无关的X射线 强度的变化。 6.6.7 均匀度homogeneity 试样不同采样点成分一致性的程度。 6.6.8 质量效应masseffect 在分析颗粒物时，由于电子束策贯穿颗粒物边界而引起的X射线强度变化的几何效应。 6.6.9 基体效应matrixeffect;interelementeffect 由于元素“B”的存在而导致元素”A”的X射线产生和发射强度的改变。 6.6.10 辐射敏感度radiationsensitive 材料在电子轰击下导致如质量损失、离子迁移、分子键破坏、颜色改变等类型的损伤程度。 6.6.11 薄试样thinspecimen 厚度尺寸小于电子束和X射线穿透范围的试样，它比相同成分的块状试样产生的X射线强度低： 但空间分辨率提高。 6.7 空间分辨率spatialresolution 微束分析空间特征的一种度量。 注：通常用激发体积表示。 6.7.1 分析空间分辨率analyticalspatialresolution 由特定元素X射线电离能确定的空间分辨率。 注：在一个多元素试样中，不同元素的空间分辨率不同，随着电离能的减小，激发体积增加。 6.7.1.1 分析面积analysisarea 相互作用体积在电子束人射面上的投影面积，确定百分数（例如总量的95%）的X射线从此面发射 并由谱仪接收。
分析面积analysisarea
X射线经试样吸收后，确定百分数（例如总量的95%）的X射线从相互作用体积内发射的最大 深度。
分析体积analysisvolume
X射线经试样吸收后，确定百分数（例如总量的95%）的X射线发射的体积
GB/T21636—2021/ISO23833:2013
6.6.1 5.6.8
GB/T21636—2021/ISO23833.2013
GB/T21636—2021/ISO23833.2013
area scanning artifact peak
edge effect edgeenergy EDS elastic scattering electronbeam
GB/T216362021/ISO23833:2013
《高层建筑火灾扑救行动指南 GA／T 1191-2014》6.4.3 er diffreflection 5.6.14.4 eity ... 6.6.7
GB/T216362021/ISO23833.2013
lowbeam energyanalysis
【福建省】《建筑边坡与深基坑工程管理规定》2010年版thin specimen
GB/T21636—2021/ISO23833:2013
GB/T21636—2021/ISO23833.2013