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JJF 1850-2020 锗γ射线谱仪校准规范将实施.pdf简介：

"JJF 1850-2020 锗γ射线谱仪校准规范"是一个关于测量技术、仪器校准的专业标准。该规范的主要内容是针对锗γ射线谱仪这类特定的测量设备，规定了其校准的方法、程序、要求以及检测的精度和准确性的标准。它涵盖了校准周期、校准方法、测量不确定度的评估、校准结果的报告等方面，旨在确保这类谱仪的测量结果在科学实验、工业生产或质量控制中具有可靠性和一致性。

"实施.pdf"版本可能是指该规范的正式发布文件，包含了详细的执行指南、示例和操作步骤等，供使用者在实际操作中参考和遵循。这份规范的实施对于保证锗γ射线谱仪的性能稳定和测量数据的准确性具有重要的指导作用。

JJF 1850-2020 锗γ射线谱仪校准规范将实施.pdf部分内容预览：

样品计数率的灵敏系数：c1= anI.A

包含因子k三2，得到扩展不确定度：

在谱分析中，被测样品种类繁多，当样品的测量条件（尺寸、形状、密度、化学 成分等）与刻度条件不同时，样品自吸收也会不同，这时需要对测量样品进行自吸收修 正。自吸收不仅与样品本身的特性相关，还与样品与探测器的相对位置以及探测器的尺 寸、形状等参数相关，

JG∕T 464-2014 集成材木门窗G.2自吸收修正的计算方法

自吸收的程度，可以通过有自吸收时的射线强度（吸收系数以≠0）与在同样条 件下无自吸收时的射线强度（假想情况，吸收系数二0）的比来表示，用数学公式表 示为：

I（有吸收衰减≠0） Cselr(E) I。（无吸收衰减μ=0）

从而得到自吸收修正因子Ceelr（E）为：

图G.1半经验方法示意图

G. 2. 2解析方法

图G.2解析计算示意图

根据样品与探测器的几何关系，将体积为V（见图G.2）的样品分为无限个小的矩 阵元，按每一个小的矩阵元对探测器张的立体角2进行积分，得到自吸收修正公式 如下：

其中（E）为样品介质对于能量为E的射线的衰减系数；e（r，t）为射线在样品 中的路径。 若考虑射线进人探测器晶体前的吸收（样品容器、探测器窗等），上式可以表示为 如下形式：

G.3质量衰减系数的确定

样品成分已知时，可以通过光子吸收截面数据库（XCOM）计算样品的质量衰 数。以水介质为例，计算不同能量点（能量范围从1keV到10MeV）的射线在 的质量衰减系数，见图 G.3。

G.3.2样品成分未知

图G.3水介质质量衰减系数

测3. 2. 1. 1原理

G. 3. 2. 1. 2 实验步骤

实验设计如图G.4所示，为使得射线满足窄平行光束条件，在样品盒的上下 加一个铅准直器。

图G.4射线衰减系数实验测量示意图

实验步骤：1）将空样品盒放置在上下铅准直器之间的样品测量位置，利用锗射 线探测器获取点源的能谱，计算对应峰位的计数率N，（E）；2）将空样品盒换成待测 详品《殡仪馆建筑设计规范 JGJ124-99》，利用锗射线探测器获取点源的能谱，计算对应峰位的计数率N2（E）。质量 衰减系数计算公式如下：

um（E）——介质对能量为E的射线的质量衰减系数； 样品厚度。

N,(E) um（E)= .ln (N,(E)

H.1测量条件与校准条件相同

在能谱分析中，当样品测量条件与校准条件相同（包括样品几何规格、基质 基质密度、核素等）时，效率刻度结果可直接使用，利用相对比较法进行放射性 活度分析。样品中待分析核素活度按下式计算：

H.2测量条件与校准条件不同

在能谱分析中，当样品测量条件与校准条件不同时（包括样品几何规格、基质 基质密度、核素等）DBJ∕T 15-140-2018 广东省市政基础设施工程施工安全管理标准，效率刻度结果需做修正后使用，修正方法见表H.1。样品 分析核素活度按下式计算：

JJF1850—2020

表H.1测量条件与校准条件不同时效率修正方