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GB／T 16857.901-2020 产品几何技术规范（GPS） 坐标测量机的验收检测和复检检测 第901部分：配置多影像探测系统的坐标测量机简介：

GB/T 16857.901-2020是中国国家标准，全称是《产品几何技术规范（GPS） 坐标测量机的验收检测和复检检测 第901部分：配置多影像探测系统的坐标测量机》。该标准规定了配置多影像探测系统的坐标测量机的验收检测和复检检测方法，适用于工业制造领域中使用这类设备的精度验证和性能评估。

多影像探测系统（Multiview Imaging System，MIS）的坐标测量机是一种利用多个相机从不同角度对被测物体进行同时或连续拍摄，通过图像处理技术获取三维几何信息的精密测量设备。这类设备主要用于高精度的形状和尺寸测量，特别是在航空航天、汽车制造、电子设备等领域有广泛应用。

该标准详细规定了坐标测量机的安装、校准、性能测试、数据处理和报告等方面的要求，确保设备的测量结果准确可靠。对于购买、安装和使用这种类型的坐标测量机的企业和机构来说，遵循该标准可以保证其测量设备的性能符合国家和行业标准，从而保证产品质量和生产效率。

GB／T 16857.901-2020 产品几何技术规范（GPS） 坐标测量机的验收检测和复检检测 第901部分：配置多影像探测系统的坐标测量机部分内容预览：

GB/T16857的本部分规定了对配置多影像 量机进行验收检测和复检检测的 方法。 本部分所描述的检测结果包含坐标测量机和探测系统的各种误差的影响，是对使用单一视觉探测 系统坐标测量机的探测误差及长度测量误差检测的补充。 本部分适用于配备多个影像探头的坐标测量机

影像探测系统imagingprobingsystem 通过影像系统建立测量点的探测系统。 注1：本部分主要是关于能在探测系统轴的横向方向进行测量的影像探测系统。 注2：视频或视觉探测系统就是影像探测系统。 3.2 多影像探测系统坐标测量机CMMswithmultipleimagingprobingsystem 配置多个影像探测系统的坐标测量机。 3.3 （影像探测系统的）测量平面measuringplane（oftheimagingprobingsystem） 影像探测系统视场定义的二维平面， 3.4 平行多影像探测系统parallelmultipleimagingprobingsyster 测量平面呈平行关系的多影像探测系统。 3.5 测量平面不平行的多影像探测系统， 3.6 检测圆testcircle 用于验收检测和复检检测的圆形实物标准器 3.7 检测球test sphere 用于验收检测和复检检测的球形实物标准器 3.8 平行多影像探测系统形状误差parallelmultipleimagingprobingsystemformerror 用平行多影像探测系统测量同一个检测圆，对所有影像探测系统的数据，用无约束最小二乘法拟合 计算圆心，所有测量点到圆心的距离的极差即形状误差。 3.9 平行多影像探测系统尺寸误差parallelmultipleimagingprobingsystemsizeerror P Size.Cir.n× 25::PMIPS 用平行多影像探测系统测量同一个检测圆，对所有影像探测系统的数据，用无约束最小二乘法拟合 计算直径，计算值与检测圆实际值的差值即尺寸误差。 3.10 平行多影像探测系统位置误差parallelmultipleimagingprobingsystemlocationerror L Xia.Cir.n× 2 5 : : PMI 用平行多影像探测系统测量同一个检测圆，对每个探测系统的数据，用无约束最小二乘法拟合计算 圆心，包含各个圆心的最小外接圆的直径即位置误差。 3.11 非平行多影像探测系统形状误差 nonparallel multipleimagingprobing systemformerror 用非平行多影像探测系统测量同一个检测球，对所有影像探测系统的数据，用无约束最小二乘法拟

合计算球心，所有测量点到球心的距离的极差即形状误差。 3.12 非平行多影像探测系统尺寸误差nonparallelmultipleimagingprobingsystemsizeerror P sizc.Sph.nX 25:: NPMIPS 用非平行多影像探测系统测量同一个检测球，对所有影像探测系统的数据，用无约束最小二乘法拟 合计算直径，计算值与检测球实际值的差值即尺寸误差。 3.13 非平行多影像探测系统位置误差nonparallelmultipleimagingprobingsystemlocationerror L Dia.Sph.nx 25 : NPMIP 用非平行多影像探测系统测量同一个检测球，对每个探测系统的数据，用无约束最小二乘法拟合计 算球心，包含各个球心的最小外接球的直径即位置误差。 .14 平行多影像探测系统形状最大充许误差 maximum permissible parallel multiple imaging probing ystem form error 技术规范所充许的多影像探测系统的形状误差PFor ：PMIs的极限值 注：多影像探测系统形状最大允许误差，PPo ，可用如下二种形式之一表示： a）PForm.Cir.n×25:PMIPS.MPE=(A +Lp/ K）和 B 中最小的 其中，A为大于零的常数，单位为μm，由制造商提供，K为无量纲的大于零的常数，由制造商提供；Lp为检测圆 3.15 平行多影像探测系统尺寸最大允许误差 maximum permissible parallel multiple imaging probing systemsizeerror 5: ;PMIPS,MPE 技术规范所允许的多影像探测系统的尺寸误差Psize.Cir.x25:PMIPs的极限值。 注：多影像探测系统尺寸最大允许误差，PsiC 5PMIPS，可用如下三种形式之一表示： =(A+Lp/K）和B中最小的 b)Psi (A+Lp/K) 其中，A为大于零的常数，单位为m，由制造商提供；K为无量纲的大于零的常数，由制造商提供；LP为检测圆 中心位置与参考位置的欧氏距离，单位为mm；B为制造商提供的最大允许误差，单位为um。 3.16 平行多影像探测系统位置最大允许误差 maximum permissible parallel multiple imaging probing systemlocation error 技术规范所允许的多影像探测系统的位置误差LDia.Cir.nx25::PMIPs的极限值。 注：多影像探测系统位置最大充许误差，LDia.Cit. MIPS,MPE，可用如下三种形式之一表示： a)L Da.Cir.n× 25:PMIPS,MPE =(A + Lp / K)和 B 中最小的 b)L Dia.Cir.n 25:: PMPS,MPE: = (A + Lp/ K ) C)LDia.C 其中，A为大于零的常数，单位为um，由制造商提供；K为无量纲的大于零的常数，由制造商提供；Lp为检测圆 中心位置与参考位置的欧氏距离，单位为mm；B为制造商提供的最大允许误差，单位为um。

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probing system form error 技术规范所允许的多影像探测系统的形状误差PFarm.Sph.nx25:NPMIPs的极限值。 注：多影像探测系统形状最大允许误差，PFarm.Spl.nx×25::NPMIPs.MPE，可用如下三种形式之一表示： b)PFarm.Sph.nx25:NPMrs.MPE= (A + Lp / K) P Farm.Sph,n × 25: NPMIPS.MPE = B 其中，A为大于零的常数，单位为um，由制造商提供；K为无量纲的大于零的常数，由制造商提供；Lp为检测球 中心位置与参考位置的欧氏距离，单位为mm；B为制造商提供的最大允许误差，单位为um。 3.18 非平行多影像探测系统尺寸最大允许误差 maximumpermissible nonparallelmultipleimaging probing system size error 技术规范所允许的多影像探测系统的尺寸误差Psizc.5 注：多影像探测系统尺寸最大允许误差，Ps2.$ b)Psume.Sphnx25::NPMIPS,MPE= (A + Lp/ K) om 其中，A为大于零的常数，单位为um，由制造商提供；K为无量纲的大于零的常数，由制造商提供；Lp为检测球 中心位置与参考位置的欧氏距离，单位为mm；B为制造商提供的最大允许误差，单位为um。 3.19 非平行多影像探测系统位置最大允许误差maximumpermissiblenonparallelmultipleimaging probing system location error 技术规范所允许的多影像探测系统的位置误差LDia.Sph.n×25:NPMIPs的极限值。 注：多影像探测系统位置最大允许误差，L品 IPS.MPE，可用如下三种形式之一表示： a） LD PEK（A+Lp/K）和B中最小的 b） =(A+Lp/K) 其中，A为大于零的常数，单位为um.由制造商提供；K为无量纲的大于零的常数，由制造商提供；Lp为检测球 中心位置与参考位置的欧氏距离，单位为mm；B为制造商提供的最大允许误差，单位为um

本部分所使用的符号如表1

在参照本部分进行检测之前，应首先参照GB/T16857.7对坐标测量机使用各个探测系统分别进 行探测误差及长度测量误差的检测 O

5.2多影像探测系统的误差

25: : NPMIPS 差值的表述： 验收检测，由制造商规定； 复检检测，由便用方规定。 误差及其相应的最大允许误差以微米(um)表示

环境条件的允许极值，包括坐标测量机安装场地影响测 和振动等，规定如下： 验收检测，由制造商规定； 复检检测，由使用方规定。 在这两种情况下，使用方都可以在充许极值范围内任意选择环境条件。 验收检测中DB32／T 3387-2018标准下载，使用方有责任为坐标测量机提供制造商技术指标中规定的环境。如果环境不符合 范，不能要求验证本部分中的最大允许误差或最大允许差值

对于第6章规定的检测，应接照制造商操作手册给出的程序来操作坐标测量机，应遵守操作手 范，主要包括：

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机器启动/预热； 所有被检测的探测系统应满足其额定工作条件； 探测系统、标准器的清洁程序； 探测系统的标定； 如果制造商有规定，标准器应安装在操作手册规定的位置上。 探测系统标定之前，应清洁探测系统的所有关键部件，如透镜、反射镜、标准器等，以清除可能影响 则量或检测结果的残留物， 探测系统标定及检测过程中，应确保探测系统基本达到热平衡

验收检测应根据制造商 此规范和程序应符合本部分的相关要求；复检检测 立根据使用方规 X