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GB／T 26218.1-2010 污秽条件下使用的高压绝缘子的选择和尺寸确定 第1部分：定义、信息和一般原则简介：

GB/T 26218.1-2010 是中国的一项国家标准，全称为《污秽条件下使用的高压绝缘子的选择和尺寸确定 第1部分：定义、信息和一般原则》。这份标准主要针对在污秽环境中使用的高压绝缘子，规定了其选择、尺寸确定以及相关技术要求。

首先，它定义了一些关键术语，如污秽、污秽等级、爬电距离等，这些都是在设计和使用高压绝缘子时所必需理解的基本概念。

其次，它提供了选择和尺寸确定高压绝缘子所需的信息，包括环境条件（如污秽度、海拔高度、气温等）、系统电压、绝缘要求等，这些都是影响绝缘子性能和选择的重要因素。

再者，它列出了选择和尺寸确定的一般原则，比如污秽等级的划分、绝缘子的爬电比距要求、绝缘子的机械强度要求等，这些原则为实际操作提供了指导。

总的来说，GB/T 26218.1-2010 是一个技术性的标准，它的目的是保证在污秽环境下高压绝缘子的正常运行，防止由于污秽导致的闪络等电力事故，从而保证电力系统的稳定运行，保障社会的正常用电需求。

GB／T 26218.1-2010 污秽条件下使用的高压绝缘子的选择和尺寸确定 第1部分：定义、信息和一般原则部分内容预览：

色缘子表面的ESDD应按式（C.3）和式（C.4)计算。此计算根据GB/T45852004中16.2的规 20和S（盐度，kg/m）间的关系示于图C.4

S,= (5.7020)1.03 ESDD= S. · V/A

GB∕T 10294-1988 绝热材料稳态热阻及有关特性的测定 防护热板法图C.42n和S.的关系

面和下表面的ESDD，那么平均ESDD可以计算如下（式（C.5）同样也可以 平均ESDD=（ESDD.XA.+ESDD,XA,)/A

和下表面的ESDD，那么平均ESDD可以计算如下（式（C.5)同样也可以 平均ESDD=(ESDD,XA+ESDD,XA,)/A ·（C.5

C.4.2NSDD计算

应使用漏斗和已干燥并且称过重量的滤纸（等级GF/A1.6μm或类似的）过滤测量了ESDD后的

含污秽的水。 应干燥含有污移物（残余物)的滤纸，然后称重，正如图C.5所示。 NSDD 按式(C. 6)计算

C.5污移物的化学分析

图C.5测量NSDD的程房

附录D (规范性附录) B类污秽度的评定

D.2通过泄漏电流测量评定B类污移的SES

D. 2. 1 表面电导的测量

这种定期测量是低电压下或在一个有简单伞形的绝缘子上、或在一个参照盘形悬式绝缘子上、或在 一个长棒形绝缘子上进行的。施加的电压（2min间隔）应足够低（例如每米爬距为700V(r.ms）），以避 免干带电弧。电流值应用适当的方法记录。 注：此电导对不同绝缘子是一个不可比较的参数。一个特定绝缘子的电导可通过形状因数换算为表面电导率（见 附录H)，

D.2.2表面泄漏电流的测量

这种连续测量是在一个参照盘形悬式绝缘子串或一个参照长棒形绝缘子上进行的。所施加的电 应使绝缘子在预期的现场污移度等级下维持在耐受状态，即在试验期间不会发生污移闪络。用 法记录下该电流值。

D.2.3用盐雾试验校准

在上面的两种情况下，电流值的校准按GB/T4585一2004对相同的绝缘子和在相同的电压应力下 的盐雾试验来进行。试验的方法是从一次试验到下一次试验逐步升高盐度，直到其泄漏电流峰值 （Ihigheat）与从现场测量值可比较时为止。该相应的盐度就是现场等值盐度（SES)。 注1：Isigbes是一绝缘子在耐受条件下在足够的试验期间（即户外试验站情况下的1年或多年，或者是按 GB/T4585一2004盐雾试验情况下的1h）测得的泄漏电流最高峰值。 注2：如果使用聚合物绝缘子代替在本部分中定义的参照绝缘子对SES评定，应该注意，这样的增水性绝缘子在按 GB/T4585一2004进行盐雾试验时呈现出的性能可能比运行中的性能低，这是因预处理过程所造成的增水 性的暂时丧失所引起的，

D.3用绝缘子闪络应力测量评定B类污移的SES

在户外试验站对一个参照盘形悬式绝缘子串或参照长棒形绝缘子所进行的连续测量以及所提供的 结果是最接近运行经验的。绝缘子的闪络应力是闪络电压除以绝缘子长度或绝缘子爬电距离。经过一 时间期限的结果可以表达为最低闪络应力或闪络应力和闪络频率间的一个关系。其试验程序通常是用 若干易爆的熔丝桥接一串中的某些绝缘子，从而闪络以后该串就会自动加长（更多的信息见 CIGRE158[1J）。然后该最低闪络应力就可以直接标定相同参照绝缘子按GB/T4585一2004进行盐雾 试验的结果，以得到此户外试验站的SES。在这个方法中，通过参照绝缘子可以把现场污移度（SPS)与 SES相关联（见图2），在这里，闪络而不是泄漏电流是性能的判据。另外，对试验现场的参照绝缘子的

其他污移度测量（例如表面电导，表面泄漏电流）也可以与SPS相关联。 注：此SES适宜于对参照绝缘子按GB/T4585一2004的盐雾耐受试验，不应直接使用它来确定对其他绝缘子设计 的人工污移试验的污移度（更多的信息参见[2])

D.4怎样估计B类污移的SPS

附录A的流程图表示了估计具有B类污移的现场SPS的一般方法。分析可能的污染源和潮湿的 频度在估计SPS时是重要的。来自多种污移度测量的数据也会有助于确定一个地点准确的SPS。例 如沿海地区，这里盐水和导电雾会沉积在绝缘子表面并且不溶沉积物可能有重要影响也可能没有重要 影响，其SPS可以从运行经验、ESDD、表面电导率或泄漏电流结果来获得。在解释这些结果时需要考 虑每种方法的强度和弱点（更多的信息见CIGRE158［1J）。 因此，在上面的海岸的例子中，不溶沉积物是可忽略的并且参照绝缘子上会发生经常性的湿润，由 于绝缘子表面经常性的清洁，ESDD测量值很可能是低的。在这样的情况下，要求有一个统计研究以分 析所收集到的数据，并应使用分布函数的最大似然估计。因而例如95%置信水平上的2%值可以使用 作为SPS尺寸计算参数以校正很低的或很少的测量值（更多的信息参见E2J）。在设计临界装置的绝缘 时这种方法可能是特别重要的，

附录E （规范性附录） 式验室试验方法的使用

所使用的相关的试验方法根据现场的污移类型、绝缘子型式以及电压类型来选取。GB/T4585 2004和GB/T22707中给出的试验是直接适用于瓷和玻璃绝缘子的。直到现在还没有直接适用于聚 合物绝缘子的标准试验。作为一个通用的规则，推荐固体层试验用于A类污移，而盐雾试验用于B类 污移。 使用于试验室试验的污移度按3个步骤确定： 1）提供污移类型并按第8章和附录C、附录D中叙述的现场污移的评定方法确定现场污移度。 2) 将现场污移度水平对确定SPS时的任何不足或不准确性进行校正。校正因数应补偿 一在收集污移时现场污移度测量用绝缘子和被试验绝缘子间的差别，例如伞的外形和直径 的影响； 对现场污度测量所使用的绝缘子和被试验的绝缘子在施加电压类型上的差别，例如是 直流还是交流电压； 其他重要影响。 3） 在试验室进行试验时要求的污移度是从SPS得出的，应补偿运行中绝缘的实际条件与标准试 验时的条件间的差别。这些污移度校正因数应补偿： 现场的污和试验中的污移在污移类型上的差别； 一现场的污移和试验中的污移在均匀性上的差别； 一运行中的受潮条件和试验期间的受潮条件间的差别； 设备装置上的差别。 其他重要影响可以包括： 在预期的寿命期间老化对积污和绝缘湿润性的影响； 一为检验要求的污移度耐受水平而进行的有限次数试验的统计不确定度。 这些是本过程的一般原则。校正因数值的选取取决于现场条件和运行经验。校正因数对某些型式 的绝缘子是已知的并且当得到经验时会了解的更多。只要有可能，在GB/T26218的相关部分中会给 出该因数的典型值。 经供需双方协议，可以考使用非标准的或另行规定试验室污移试验方法。那些方法的更多信息 可以在CIGRE158［1]中找到

GB/T26218.12010

附录 F （规范性附录） 人工污移试验污秽度和接收准则的非随机法和统计法

人工污移试验的污移度和接收准则使用了两种方法：非随机法和统计法。但是，许多应用程序是这 两种方法的混合物。例如，在非随机法中使用的某些因数是从统计研究或统计法中已经忽略了的某些 统计变量得出的。

非随机法已广泛使用于许多电气和机械的部件、电器和系统的设计中。典型情况下，绝缘水平是基 于现场污移度和包含未知情况的安全因数的最恶劣情况的分析得出的。它假定，现场污移度有一个限 定的最大值，它是可能施加到绝缘子上的应力，在图F.1中表示作为环境应力f（y）。同样还假定，绝缘 强度P(")可以由低于它时将不会出现闪络的最小耐受污移度来描述，此最小污移耐受度从运行性能或 试验室试验来确定。因此，选取绝缘最小耐受污移度时应使其超过最大应力一个安全裕度，该安全裕度 的选取包含了设计者评定该强度和应力参数时适当的不确定度。 此方法要求对选取最大应力水平应有精确的现场污移度测定。可能会出现现场污移度的高估或低 估，或者会在试验污移度和和现场污移度之间关系上做出了不适当的假定。 过去这个方法的成功主要原因是由于人工污秽试验通常给出了一个保守的结果。 考虑到确定现场污移度和试验室条件间关系的所有因素，需要谨慎地调整试验，从而给出耐受性能 一个正确的估计。

图F.1基于非随机法的设计的图解

图F.2污移闪络风险计算的应力/强度概念

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附录G （资料性附录） 收集污移地区绝缘子性能信息的调查表举例

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用来确定绝缘的方法 +本部分方法1 +本部分方法2 ○是否现场测量？ ○确认的试验方法/结果 >本部分方法3 ○ 是否现场测量?

暴雨 风（方向，平均风速和峰值风速） 距上次降雨和上事故的时间 其他

暴雨 风（方向JGJ 437-2018 城市地下病害体综合探测与风险评估技术标准，平均风速和峰值风速） 距上次降雨和上事故的时间 其他

在这个情况下，F：是等于绝缘子圆周对局部爬电距离的比值的倒数值从绝缘子一端到计算点的积 分。它仅取决于表面形状而并不取决于尺寸大小。见GB/T4585一2004。 含有均匀分布的导电层的表面，其总的电导率取决于 ·表面的电导率； ·F。 F：给出了均匀电导表面（例如均匀污染和湿润的绝缘子的表面)的电阻率/电导率和相同表面的总 电阻/电导间的精确关系

在这个情况下，F：是等于绝缘子圆周对局部爬电距离的比值的倒数值从绝缘子一端到计算点的积 分。它仅取决于表面形状而并不取决于尺寸大小。见GB/T4585一2004。 含有均匀分布的导电层的表面，其总的电导率取决于 ·表面的电导率； ·F。 F：给出了均匀电导表面（例如均匀污染和湿润的绝缘子的表面)的电阻率/电导率和相同表面的总 电阻/电导间的精确关系。

爬电比距和统一爬电比距（USCD）间的关系

GB/T5582一1993使用的爬电比距（SCD)是基于系统电压的。对于交流系统，这是相对相电压。 而USCD涉及的是绝缘子承受的电压，即对于交流系统是相对地电压。爬电比距（SCD)和统一爬电比 距（USCD）两者都规定作为最小值。 表I.1给出了通常使用的SCD值和USCD值间的关系。

DB15／T 1641-2019标准下载表工1爬电比距和统一爬电比距间的关系

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