GBT 7220-2004 产品几何量技术规范( GPS )表面结构 轮廓法表面粗糙度 术语 参数测量

GBT 7220-2004 产品几何量技术规范( GPS )表面结构 轮廓法表面粗糙度 术语 参数测量
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标准编号:GBT 7220-2004
文件类型:.pdf
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标准类别:建筑标准
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GBT 7220-2004 标准规范下载简介

GBT 7220-2004 产品几何量技术规范( GPS )表面结构 轮廓法表面粗糙度 术语 参数测量简介:

GBT 7220-2004是中国的一项关于产品几何量技术规范的国家标准,主要针对的是表面结构,特别是轮廓法表面粗糙度的术语和参数测量。

1. 表面粗糙度:这是评估产品表面质量的一个重要指标,它描述的是表面微观不平的程度。这不仅影响到产品的外观,还对摩擦、磨损、腐蚀、光学性能等有重要影响。

2. 轮廓法:这是测量表面粗糙度的一种方法,它通过测量表面轮廓线的形状来确定表面粗糙度。这种方法可以提供关于表面形状的详细信息,包括高度和间距的特性。

3. 参数:表面粗糙度的参数主要包括Ra(算术平均偏差)、Rz(最大高度)、Ry(轮廓的最大高度)、Rq(粗糙度平均值,即综合了高度和间距信息的参数)等。这些参数的不同组合可以用来全面描述表面的粗糙度特性。

4. 测量简介:测量过程通常包括样品准备(如清洁、抛光等)、选择适当的测量仪器(如轮廓仪、干涉仪等)、设置测量参数、实际测量和数据处理(如计算参数值、分析结果等)。

请注意,实际操作时,应严格按照相关标准和操作规程进行,以确保测量的准确性和一致性。

GBT 7220-2004 产品几何量技术规范( GPS )表面结构 轮廓法表面粗糙度 术语 参数测量部分内容预览:

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会

产品几何量技术规范(GPS) 表面结构轮廓法 表面粗糙度术语参数测量

产品几何量技术规范(GPS) 表面结构轮廓法 表面粗糙度术语参数测量

本标准规定了有关表面结构( 和原始轮廊)参数测量的术语及定义。 本标准适用于轮廓法评定表面结构参数测量的术语定义。

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有 的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究 是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。 GB/T3505一2000产品几何技术规范表面结构轮廓法表面结构的术语、定义及参数 (eqvISO4287:1997) GB/T60622002 2产品几何技术规范(GPS)表面结构轮廊法接触(触针)式仪器的标称特 性(eqvISO3274:1996)

由GB/T3505和GB/T6062确立的以及下列的术语和定义适用于本标准。 3. 1 轮廊转换profiletransformation 在测量过程的任一阶段(如:触针滑移、滤波、记录等)预期地或非预期地导致轮廓表现形式产生变 换的过程。 3. 2 转换轮廓transformedprofile 由转换结果所产生的轮廓。 3. 3 预期轮廓转换intentionalprofiletransformation 按规定的要求(对给定某一测量的具体要求)测量时,应进行的轮廊转换, 例如:将表面轮廊转换成电信号,以便能使用电测仪器;测量时用滤波器按波长分离出与粗糙度、波 纹度和原始轮廊对应的轮廊成分。 3.4 非预期轮廊转换unintentionalprnfiletransformation 由于测量仪器或其个别部分不完善,所产生的轮廓转换(通常视为轮廊信息失真)。 例如:当具有一定针尖半径的触针滑过轮廊进行测量时,所产生的轮廊信息失真。 3.5 轨迹轮廓tracedprofile 测量表面时,触头在被测表面的横切面内触头中心点的轨迹,这个触头具有理想的儿何形状(带有 球形尖端的圆柱体)、标准尺寸和标准测力。

轨迹轮廓tracedprofil

轮廓采样间距Axprofilesamplinginterval 用数字法测量表面参数时,轮廊上相邻的两个离散纵坐标间的距离(见图1)

轮廊量化步距Ayprofilequantizationstep

用数字法测量每个轮廊纵坐标值时,两相邻读数间的距离(见图1)。 注:该距离等于数字测量装置的最小读数单位,进行数字测量时,轮廊纵坐标值圆整到轮廊量化步距的整倍数n y=nAy

《城市轨道交通自动售检票系统技术条件 GBT20907-2007》理想求值系统idealoperator

n = ent(0. 5 +)

实际求值系统realoperator 最佳求值系统的具体实现。 注:该种求值系统由于仪器的制造误差或由于仪器的长期使用所产生的特性变化而不同于最佳求值系统(见图2)。 3.14 方法误差AMmethoderror 按最佳求值系统确定的表面参数值与同一参数的真值(即按理想求值系统确定的值)之差(见图2)。 3.15 仪器误差AAinstrumenterror 由实际求值系统确定的表面参数值与最佳求值系统确定的同一参数值之差(见图2)。 3.16 仪器(测量装置)示值误差ATerrorofindicationofainstrument(meauringdevice) 由测量仪器(即按实际求值系统)确定的表面参数值和该参数的真值(即按理想求值系统确定的值) 之差。它包括方法误差和仪器误差(见图2)

实际求值系统realoperator 最佳求值系统的具体实现。 注:该种求值系统由于仪器的制造误差或由于仪器的长期使用所产生的特性变化而不同于最佳求值系统(见图2)。 3.14 方法误差AMmethoderror 按最佳求值系统确定的表面参数值与同一参数的真值(即按理想求值系统确定的值)之差(见图2)。 3.15 仪器误差AAinstrumenterror 由实际求值系统确定的表面参数值与最佳求值系统确定的同一参数值之差(见图2)。 3. 16 仪器(测量装置)示值误差△Terrorofindicationofainstrument(meauringdevice) 由测量仪器(即按实际求值系统)确定的表面参数值和该参数的真值(即按理想求值系统确定的值) 之差。它包括方法误差和仪器误差(见图2)

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