标准规范下载简介

JJF(苏) 233-2020 低频磁场测量仪校准规范.pdf简介：

"JJF(苏) 233-2020 低频磁场测量仪校准规范.pdf" 是一份由中华人民共和国国家计量技术规范发布的文件。该规范主要针对低频磁场测量仪这一类型的计量设备进行校准工作的指导。 JJF是"检定规程"（Jian ding guan bi）的缩写，是一种中国计量管理体系中的技术文件，用于规定计量器具的检定方法、程序、要求和检定周期等。

这份规范详细规定了低频磁场测量仪的校准方法、校准条件、校准程序、测量不确定度的评定以及校准结果的报告等内容，确保这类测量设备的测量结果准确、可靠，符合相关标准和应用领域的技术要求。对于从事低频磁场测量的实验室、科研机构或者设备制造商来说，遵守这份规范是确保其设备性能稳定和检测结果一致性的必要依据。

JJF(苏) 233-2020 低频磁场测量仪校准规范.pdf部分内容预览：

JF（苏）2332020

本规范适用于30Hz~100kHz的低频磁场测量仪的校准

JF（苏）2332020

GB／T 4473-2018标准下载低频磁场测量仪校准规范

测量仪器的输入设备，通常单独形成一个部分，将被测量转换为合适的形式。 3.2线圈探头coilprobe 由线圈制成的磁场传感器，输出的感应电压与磁场对时间的导数成比例。 3.3读出装置readoutdevice 采集并测量探头的输出信号并显示场测量结果的电子装置。 3.4探头的各向异性anisotropyoftheprobe 探头对于来自不同方向的场信号的输出响应差别。

低频磁场测量仪用于测量低频磁场辐射大小，即场强，符号定义为S，分为“磁 场强度”，符号是H，单位是A/m，或者是"磁感应强度”，符号是B，单位是T，H 和B之间有固定的换算关系。 低频磁场测量仪的磁场探头为感应线圈，主要应用于医疗卫生、环境保护和电磁 兼容领域。低频磁场测量仪的电路结构如图1所示。测量仪由探头与读出装置两大部 分构成。磁场信号被探头拾取产生电压信号，送入检波电路，经调理后进行模数转换。 控制电路负责计算，供电，温度修正补偿，显示测量结果。低频磁场测量仪的探头由 单个或者三个正交的线圈（又称感应线圈、探测线圈、拾取线圈，如图2所示）构成。

JF（苏）233—2020探头部分读出装量部分线图检波模拟信模数电池X轴电路号调理转换线图检波模拟信模数控制结果显Y轴电路号调理转换电路示线图检波模拟信模数温度Z轴电路号调理转换传感器图1低频磁场测量仪的结构图2线圈探头结构5计量特性低频磁场测量仪的计量特性见表1。表1待校准低频磁场测量仪的计量特性参数场强测量范围频率范围磁场强度(0.048~80)A/m30Hz~100kHz磁感应强度(0.06~100)μT注：磁场的频率响应和线性可以通过测量的磁场示值计算得到，各向异性可以通过在0°到360°之间不同的角度处测量磁场并计算得到。6校准条件6.1环境条件环境温度：（23±5）℃相对湿度：≤80%

JF（苏）2332020

a）外观及工作正常性检查 b）场强（磁场强度或磁感应强度）示值，从频率响应和线性两个方面

JF（苏）2332020

7.2.3探头的各向异性

a）按图3连接仪器，组成校准系统。所有测量仪器设备通电，按技术说明书规 定时间预热。 b）使用探头定位装置，将低频磁场测量仪的探头放入亥姆霍兹线圈中心位置， 探头手柄与线圈平面成45°角或者用户要求的其他角度。 c）设置正弦波发生器的频率和幅度，并调节低频功率放大器，使得校准系统的 中心场强为期望的标准场强值，该标准场强值通过式（1）或式（2）计算。 d）以探头手柄作为旋转轴，将探头按照步进方式完整地旋转360°，在表A.3中 记录下每个角度对应的被校场强示值S，在该组数据中找到最小值Smin和最大 值Smax，利用公式（3）计算出探头的各向异性值A。

Sm A=20logio JSmxS.

JF（苏）2332020

交准结果应在校准证书上反应，校准证书应至少包括以下信息： a）标题，“校准证书”； b）实验室名称和地址： c）进行校准的地点（如果与实验室的地址不同）： d）证书的唯一性标识（如编号），每页及总页数的标识； e）客户的名称和地址； f)被校对象的描述和明确标识； g）进行校准的日期，如果与校准结果的有效性和应用有关时，应说明被校对象的 接收日期； h）如果与校准结果的有效性和应用有关时，应对被校样品的抽样程序进行说明： i）校准所依据的技术规范的标识，包括名称及代号： i）本次校准所用测量标准的溯源性及有效性说明： k）校准环境的描述； I）校准结果及其测量不确定度的说明； m）对校准规范的偏离的说明： n）校准证书签发人的签名、职务或等效标识； 0）校准结果仅对被校对象有效的声明：

由于复校时间间隔的长短是由仪器的使用情况、使用者、仪器本身质量等诸因素 所决定的，因此，送校单位可根据实际使用情况自主决定复校时间间隔。 建议复校时间间隔为1年。

JF（苏）2332020

表A.1外观及工作正常性检查

JF（苏）2332020

表B.1场强示值（沿 轴方向)

表B.2探头的各向异性

C.1磁场强度示值的测量不确定度评定

C.1.1 测量

JF（苏）2332020

式中： H一一磁场强度实际值，A/m V一一低频电压表测得的电压值，V； K一一电流监视器的伏安比值，VIA； N一一线圈匝数，N=5； r一一线圈半径，m; HNU一一场不均匀性引入的修正值； HENV一一环境电磁噪声引入的修正值； Hpp一一探头定位不准引入的修正值。 C.1.2不确定度来源如下： 1）测量重复性引入的标准不确定度u1； 2）低频电压表测量不准引入的标准不确定度u2 3）电流监视器比值不准引入的标准不确定度u3 4）线圈匝数不准引入的标准不确定度u4; 5）线圈半径不准引入的标准不确定度u5； 6）亥姆霍兹线圈制作不理想引入的标准不确定度u6; 7）场不均匀性引入的标准不确定度u7; 8）环境电磁噪声引入的标准不确定度ug； 9）探头定位不准引入的标准不确定度ug C.1.3标准不确定度分量的评定 1）测量重复性引入的相对标准不确定度u 各种随机因素导致的不确定度，用A类方法评定。校准点为1A/m，100kl 重复测量n（n=6）次，实际值分别为1.004,1.001,1.001,1.001,1.002,1.003（单位：A/m 算术平均值为1.002A/m，用贝塞尔公式计算得到单次测量值的实验标准偏差s（ 为0.0013A/m。校准值由m（m=1）次读数的算术平均值得到，故由重复性引起的

量不确定度分量（绝对量）用下式计算得到：

JF（苏）2332020

用B类方法评定。以校准1A/m，100kHz为例，低频电压表的示值为0.282V， 技术说明书上仪器的测量不确定度为0.128%（k=2），则：

3）电流监视器比值不准引入的标准不确定度u3 用B类方法评定。电流监视器在使用前需经过进行校准，获得K并应用到场强计算 中。100kHz时，K=2.038VIA，校准证书上提供的不确定度优于0.5%（k=2）。则：

u,=(2.038×0.5%)/2=5.1x10(V/A）

4）线圈匝数不准引入的标准不确定度u4 用B类方法评定。如果线圈的匝数较多，在获得匝数时难免需要进行测量产生误 差。当亥姆霍兹线圈为5匝时，此项误差可以忽略。假设为均匀分布，kV3，则

5）线圈半径不准引入的标准不确定度u4

用B类方法评定。线圈半径使用校准证书上的数据，~0.5m，校准证书上提供 的不确定度为0.05%（k=2），则：

5）亥姆霍兹线圈制作不理想引入的标准不确定度u6 用B类方法评定。亥姆霍兹线圈制作不理想的因素包括半径误差、间距误差、失 配，体现在对0.7155这个值的影响上。该影响量不大于0.1%，假设为均匀分布，k 则：

7）场不均匀性引入的标准不确定度u7

7）场不均匀性引入的标准不确定度u

用B类方法评定。在对低频磁场测量仪进行校准时，磁场信号穿过探头感应线圈 的中心，并与线圈平面垂直，探头感应线圈区域内所有位置的磁场强度被认为都等于 中心场强，而实际上感应线圈平面内磁场分布并不均匀。当感应线圈的直径为10cm， 亥姆霍兹线圈的半径为50cm时，计算结果显示，场不均匀性导致的相对偏差范围为 0~1.5)%，区间半宽为0.75%，假设为均匀分布，k=/3，则：

8）环境电磁噪声引入的标准不确定度us

u,=(1.002×0.75%)/3=4.3×10(A/m）

用B类方法评定。被校低频磁场测量仪上显示的磁场噪声最大为0.024A/m，以 交准1A/m为例，噪声引入的相对偏差为(0~2.4)%，区间半宽为1.2%，假设为均匀分

JF（苏）2332020

9）探头定位不准引入的标准不确定度ug 用B类方法评定。使用精确地探头定位技术，此项误差可以忽略。假设为均匀分 布, k=, 则:

C.1.4合成标准不确定度

专变线路迁移招标文件、合同、控制价磁场强度测量不确定度主要分量见表C.1

磁场强度测量不确定度主要分量见表C.1

u。 =(1.002×0%)/ /3 = 0(A/m)

表C.1磁场强度测量不确定度分量汇总表（1A/m100kHz）

C.1.5扩展不确定度

取包含因子k=2GB∕T 38388-2019 建筑光伏幕墙采光顶检测方法，U=2×uc(y）=0.018A/m

以相对值表示为，Urel= 1002A/m