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DB44／T 1905-2016 超高频射频识别(RFID)芯片测试方法.pdf简介：

"DB44/T 1905-2016 超高频射频识别(RFID)芯片测试方法.pdf" 是一份标准文件，由中国标准化协会发布。这份文件详细规定了超高频（UHF）射频识别（RFID）芯片的测试方法。UHF RFID 是指工作频率在850-950MHz或433-5.8GHz的RFID技术，常用于仓储管理、物流追踪、资产标识等领域。

该标准可能包括了芯片的性能测试、读写速率测试、抗干扰能力测试、数据安全性测试、环境适应性测试等各个环节，以确保RFID芯片的质量和功能符合相关行业标准和应用要求。通过这份标准，制造商、检验机构和用户可以理解和执行统一的测试流程，以保证RFID芯片的可靠性和一致性。

如果你需要了解更多关于这个标准的具体内容，如测试内容、步骤、指标等，可能需要查阅该PDF文件的详细内容或者寻求相关专业人员的帮助。

DB44／T 1905-2016 超高频射频识别(RFID)芯片测试方法.pdf部分内容预览：

8.2.3.1测试目的

8. 2. 3. 2测试方法

具体测试方法如下： a) 设置阅读器芯片正常工作在相关标准规定的一个信道，连接阅读器芯片和功分器。功分器 路输出连接标签，另一路输出连接信号发生仪； b 设置信号发生仪发送和阅读器芯片工作信道所在频率不同的干扰信号（具体频率值参照相关 标准规定），初始信号功率设置为零； C 通过频谱分析仪测量干扰信号的功率GB∕T 50123-1999土工试验方法标准免费下载，观测阅读器芯片是否能够对标签进行识别； 逐渐增大信号发生仪发送信号的功率，直到阅读器芯片无法对标签进行识别，此时信号发生 仪的功率即为接收机抑制干扰的最大能力。

8. 2. 3. 3测试报告

应给出接收机抑制非相邻信道信号 ，以及该值是否符合相关标准规定

8. 2. 4 杂散发射

8. 2.4.1测试目的

测试接收机杂散发射功率及频率，衡量接收机抑制杂散发射的能力

8.2.4.2测试方法

DB44/T19052016

具体测试方法如下： a）将阅读器芯片的50Q射频端口与频谱分析仪相连； b）打开阅读器芯片让其正常工作，调节频谱分析仪在杂散域内的不同频率上（具体参看相关标 准）分别测量其输出功率； c）记录测得的输出功率即为杂散功率。

8. 2. 4.3测试报告

应给出所测杂散域内多组频率值以及对应的杂散功率，判定测试结果是否符合相关标准

应给出所测杂散域内多组频率值以及对应的杂散功率，判定测试结果是否符合相关标准规定。 3.3阅读器芯片协议层功能一致性测试

8.3阅读器芯片协议层功能一致性测试

8. 3. 1. 1测试目的

验证阅读器芯片是否为标签芯片提供了合理的调制波形

8. 3. 1. 2测试方法

阅读器芯片应在规定的载波频率下以最大功率发送相关标准所规定的强制性命令。用示波器记录 阅读器芯片提供的波形，并测试相关参数：T、T和M

8.3. 1.3测试报告

应给出所测阅读器芯片提供的调制波形及其各个参数，以及

CCEA∕GC 11-2019 工程造价咨询企业服务清单8.3.2阅读器芯片解调功能和响应时间测试

8. 3. 2. 1测试目的

验证阅读器芯片能否正确地从标签返回信号中解调出信号，以及接收标签所发送的数据所需要的 最小响应时间，

8.3.2.2测试方法

8.3. 2. 3测试报告

读器芯片的解调能力和最小响应时间浙江省泵站运行管理手册编制指南（试行），以及该值