GB/T 37951-2019 微通道板试验方法

GB/T 37951-2019 微通道板试验方法
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标准编号:GB/T 37951-2019
文件类型:.pdf
资源大小:1.5M
标准类别:电力标准
资源ID:33764
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GB/T 37951-2019标准规范下载简介

GB/T 37951-2019 微通道板试验方法简介:

GB/T 37951-2019是中国国家标准,全称为《微通道板试验方法》。该标准主要规定了微通道板产品的试验方法和要求,以确保产品的性能、质量和可靠性。微通道板是一种高技术含量的电子元件,常应用于光电子、半导体、生物医学等领域,其工作性能直接影响到相关设备的运行效果。

该标准可能包括以下内容:

1. 试验条件:规定了进行试验的环境条件,如温度、湿度、电源等,以保证试验的公正性和可重复性。

2. 试验方法:详细描述了各种试验的具体操作步骤,例如电气性能测试、机械强度测试、环境适应性测试等。

3. 试验结果的评价:对试验结果进行分析和评价,以此判断产品是否满足性能要求。

4. 技术要求:对产品的各项技术参数给出了明确的要求,如电压、电流、响应时间、稳定性等。

5. 不合格产品的处理:对于不符合标准的产品,规定了相应的处理方法。

请注意,具体的试验方法和要求需要查阅完整的标准文档,因为标准的内容可能涉及大量的技术细节和专业术语,这里只能提供一个大致的框架。如果你需要深入了解或执行相关的试验,建议参考标准原文或寻求专业人士的帮助。

GB/T 37951-2019 微通道板试验方法部分内容预览:

式中: I d 暗电流密度,单位为安每平方厘米(A/cm"); Ia 暗电流,单位为安(A); S。 有效区面积,单位为平方厘米(cm)

式中: I d 暗电流密度,单位为安每平方厘米(A/cm") Id 暗电流,单位为安(A); S 有效区面积,单位为平方厘米(cm)

5.3.4增益不均匀性

5.3.4.1仪器设备

增益不均匀性测试装置及测试原理如图5所示;显微镜《道路甩挂运输货物装载与栓固技术要求 JT/T882-2014》,放大倍数为10倍

图4暗电流测试原理图

增益不均匀性测试装置及测试原理如图5所示;显微镜,放大倍数为10倍

GB/T379512019

图5增益不均匀性测试原理图

5.3.4.2 试验参数

5.3.4.3试验步骤

5.3.4.4试验数据处理

根据可觉察到的荧光屏图像亮暗不均匀分布,判定增益不均匀性。 按分布区域的形状分类,增益不均匀性通常分为: a) 斑点:点状不均匀区域,包括亮点和暗点,亮点的等效直径通常不大于75um,暗点的等效直径 通常不大于300um; b) 网格:以复合纤维(俗称复丝)边界分布的、规则的线条状不均匀区域,包括亮网和暗网,有时 视觉效果表现为亮条或暗条; c) 斑块:不属于上述斑点和网格的其他规则或不规则的、连续或分散的不均匀区域,包括亮斑和 暗斑。 注:当不均匀区域的亮度明显高于正常区域时,称为亮点、亮网和亮斑;反之,称为暗点、暗网和暗斑

5.3.5.1仪器设备

发射点测试装置及测试原理如图6所示;显微镜,放大倍数为10倍

5.3.5.2试验参数

5.3.5.3试验步骤

图6发射点测试原理图

采用可见法试验,主要步骤如下: a)设置试验参数; b)用显微镜观看荧光屏上的图像,观察图像中有无亮点或闪烁; c)当发现有亮点或闪烁时.应调节V.,观察其亮度变化情况

5.3.5.4试验数据处理

若观察到图像中有亮点或闪烁,且随V。的降低而逐渐变暗,并最终消失,则判定为发射! 或闪烁不随V。的降低而改变,通常考虑场致发射(见5.3.6)的因素

5.3.6.1仪器设备

5.3.6.2试验参数

V.同5.3.4.2d)的要求

5.3.6.3试验步骤

采用可见法试验,主要步骤如下: a)设置试验参数; b)用显微镜观看荧光屏上的图像; c)观察图像中有无亮点或闪烁

5.3.6.4试验数据处理

见察到图像中有亮点或闪炼,则判定为场致发射。

5.3.7.1仪器设备

噪声因子测试装置及测试原理如图8所示

GB/T379512019

7场致发射测试原理图

说明: e1 输人电信号: cs 输出电信号; 荧光屏输出光信号;

5.3.7.2试验参数

图8噪声因子测试原理图

5.3.7.3试验步骤

a)样品预处理:按5.4.1的方法对样品进行电子清刷 b) 输入信噪比测试: 1)将未装样品的测试夹具安装在真空室内; 2)设置V。V.; 3)无输人电流时,测量荧光屏输出信号的平均值和偏离平均值的均方根噪声值; 4)2 有输入电流时,再测量荧光屏输出信号的平均值和偏离平均值的均方根噪声值 输出信噪比测试: 1)> 将装有样品的测试夹具安装在真空室内; 2)设置V。、V和V,; 3)无输入电流时,测量荧光屏输出信号的平均值和偏离平均值的均方根噪声值; 4)有输人电流时,再测量荧光屏输出信号的平均值和偏离平均值的均方根噪声值

5.3.7.4试验数据处理

按式(8)分别计算输人信噪比和输出信噪比,计算结果表示到小数点后两位

GB/T379512019

S/N 信噪比; S. 有输入电流时,平均信号值,单位为皮安(pA); S 无输入电流时,平均信号值,单位为皮安(pA); N. 有输入电流时,偏离平均值的均方根噪声值,单位为皮安(pA); N. 无输入电流时,偏离平均值的均方根噪声值,单位为皮安(pA)。 按式(9)计算噪声因子,计算结果表示到小数点后两位

式中: NF 噪声因子; (S/N)in 输入信噪比; (S/N)a 输出信噪比。

5.3.8.1仪器设备

数显式万用表,电阻挡精度优于1Q

5.3.8.2 试验步骤

NF= (S/N) in (S/N) out

主要步骤如下: a) 选择合适量程的电阻挡; b) 将样品的输人端朝上,平放工作台面上; c) 用万用表测试笔分别接触输人端电极膜层直径方向的两端,测量输人端电极的电阻,在3个不 同的方向各测量一次; d) 翻转样品使输出端朝上,再按上述步骤c),测量输出端电极的电阻

5.3.8.3试验数据处理

分别计算输入和输出电极的电阻的算术平均值,以欧(2)为单位,计算结果表示到个位。

5.3.9.1仪器设备

寿命试验装置及测试原理同增益测试(见图2)

5.3.9.2 试验参数

V.通常为1000V~1500V; 增益阅值(GL,使用功能允许的最低增益限定值); g)额定寿命(TL,使用功能要求的最短使用寿命)。 注:试验参数未给定具体数值时.表示参数待定通常由实际需求确定

V.通常为1000V~1500V; f) 增益阅值(GL,使用功能允许的最低增益限定值); g)额定寿命(TL,使用功能要求的最短使用寿命)。 注:试验参数未给定具体数值时.表示参数待定.通常由实际需求确定

5.3.9.3试验步骤

5.3.9.3试验步骤

主要步骤如下: a)样品预处理:按5.4.1的方法进行电子清刷; b) 设置试验参数; c) 按5.3.1的方法测试增益,首先测量样品的初始值(G。);若G。≥GL,则开始以下试验步骤;否 则,应更换样品,并从步骤a)开始试验; d) 记录试验的开始时间(时刻t); 接一定的间隔时间在线测试增益(G,),间隔时间应与使用寿命的充差相适应,监测点还应包 含TL所对应的时间节点,记录所测增益及对应的时间; 若G,≥GL,试验继续,重复步骤e); g) 直至出现G,

5.3.9.4试验数据处理

使用寿命等于t2和t的时间差;若试验是分段间隔进行的,使用寿命等于累计的实际试验时间 以小时(h)为单位,计算结果表示到个位, 若试验仅需判定使用寿命的符合性,比较T,时刻的增益和GL,判定使用寿命的符合性。 注:在不改变MCP增益失效机理的前提下,可行时(如,生产厂家和顾客双方约定等),按加速试验进行使用寿 俞试验.可大幅缩短试验时间

使用寿命等于t2和t,的时间差;若试验是分段间隔进行的,使用寿命等于累计的实际试验时 小时(h)为单位,计算结果表示到个位, 若试验仅需判定使用寿命的符合性,比较T,时刻的增益和GL,判定使用寿命的符合性。 注:在不改变MCP增益失效机理的前提下,可行时(如,生产厂家和顾客双方约定等),按加速试验进行使月 命试验,可大幅缩短试验时间

5.4.1.1仪器设备

电子清刷试验装置及测试原理同增益测试(见图

子清刷试验装置及测试原理同增益测试(见图2)

5.4.1.2试验参数

5.4.1.3 试验步骤

主要步骤如下: a)按5.3.1的方法测试电子清刷前的初始增益; b)设暨试验参数:

GB/T379512019

c)按规定(如,产品规范、顾客要求等)绘制清刷电流和时间曲线(即清刷工艺); d) 调节输入电流和V。,使输出电流符合清刷工艺,记录工艺过程及参数; 需要时,分段调整输人电流和V; f 清刷工艺过程结束后,按5.3.1的方法再次测试样品的增益,

5.4.1.4试验数据处理

由试验结果得到电子清刷后的增益,结果表示到

5.4.2.1仪器设备

5.4.2.2试验参数

5.4.2.2试验参数

a) 试验前,按5.3.15.3.6的方法,测试样品的增益、电阻、暗电流密度、增益不均匀性、发射点和 场致发射; b) 然后将样品(端面)竖直放置在专用夹具上,再放人真空烘烤装置内; c) 按规定(如,产品规范、顾客要求等)绘制温度和时间曲线(即高温烘烤工艺); 设置温度和时间曲线,开始自动烘烤GB∕T 19929-2005 土方机械 履带式机器 制动系统的性能要求和试验方法,记录工艺过程及参数; 试验结束后,在样品接近室温时,取出样品; f) 用显微镜检查样品可能出现的物理损坏(如,破损、裂纹、碎等)或变形; g) 按5.3.1~5.3.6的方法,测试样品的增益、电阻、暗电流密度、增益不均匀性、发射点和场致 发射。

5.4.2.4试验数据处理

根据试验观察和检测数据,确定样品是否有物理损坏或变形,以及增益、电阻、暗电流密度、增益 匀性、发射点和场致发射的变化情况

5.5.1温度(高温、低温)

5.5.1.1仪器设备

温度试验箱;MCP电性能测试装置(指综合增益、电阻、暗电流密度、增益不均匀性、发射点和场 射测试功能的装置SJG 100-2021 深圳市公共住房建设标准,见5.3.1~5.3.6);显微镜,放大倍数为10倍

5.5.1.2试验参数

5.5.1.3试验步骤

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