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JB／T 13686-2019 光栅编码器 加速寿命试验方法.pdf简介：

"JB/T 13686-2019 光栅编码器 加速寿命试验方法.pdf" 是一份由中国机械工业联合会JB/T（机械工业行业标准）发布的标准文档，具体名称为"光栅编码器的加速寿命试验方法"。该标准详细规定了对光栅编码器进行加速寿命试验的流程、试验条件、方法和评价标准，以确保产品的可靠性和耐用性，特别是在极端条件或预期寿命长的使用环境下，能有效评估其性能和稳定性。

光栅编码器是一种常用的位置测量设备，广泛应用于工业自动化、机器人技术、航空航天等领域。这份标准对于规范光栅编码器的生产、检验和使用具有重要意义，能够帮助制造企业确保产品质量，同时也有利于用户选择符合标准的可靠产品。

JB／T 13686-2019 光栅编码器 加速寿命试验方法.pdf部分内容预览：

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JB/T136862019

本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本标准由中国机械工业联合会提出。 本标准由全国量具量仪标准化技术委员会（SAC/TC132）归口。 本标准负责起草单位：长春禹衡光学有限公司。 本标准参加起草单位：吉林大学机械学院、中国计量科学研究院、中科院光电技术研究所、国家机 床质量监督检验中心、华中科技大学、北京中科恒业中自技术有限公司、无锡市科瑞特精机有限公司、 费阳新豪光电有限公司、珠海市怡信测量科技有限公司、廊坊开发区莱格光电仪器有限公司、长春荣德 光学有限公司、西安交大机械制造系统工程国家重点实验室、长春三峰光电仪器制造有限公司。 本标准主要起草人：刘勇刚、马春玲、陈传海、张恒、曹学东、张建国、宋宝、周华聪、聂东君、 邓莉、黄志良、许兴智、倪国栋、刘红忠、梅恒、于海洋、王洋、张松涛、崔峰铭。 本标准为首次发布GB∕T 50145-2007土的工程分类标准，

JB/T136862019

光栅编码器加速寿命试验方法

加速寿命试验方法、寿命评估。 寿命试验

4.1.1试验设备经过定期校准并满足编码器试验条件的要求。 4.1.2样品从同一型号的产品中一次随机抽取， 且按照技术标准检验合格

4.1.1试验设备经过定期校准并满足编码器试验条件的要求。 4.1.2样品从同一型号的产品中一次随机抽取， 且按照技术标准检验合格

4.1.1试验设备经过定期校准并满足编码器试验条件的要求。

根据实际的应力状况，选择设备见表1。

表1试验应力及设备对照表

JB/T136862019

每个应力水平下的样品数量不少于10台。

4.5.1.1各应力的应力水平不应超过产品的设计极限 4.5.1.2应力水平应取3个。

4.5.1.1各应力的应力水平不应超过产品的设计极限。

4.5.2.1温度应力：见GB/T2689.1一1981中4.3。 根据正常工作温度（热力学温度）T。、最高工作温度（热力学温度）T，3个应力水平的温度（热 力学温度）T、T、T,按公式（1)~公式（4)计算。

4.5.2.2相对湿度应力

根据正常工作相对湿度RHo、最高工作相对湿度RH《数据中心制冷与空调设计标准 T／CECS 487-2017》，3个应力水平的相对湿度RH,、RH2、RH 公式（5)公式（8）计算。

表2编码器加速寿命试验的应力选择

力水平低的试验时间长，应力水平高的试验时间短 应力水平的试验时间见表3。

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表3各应力水平试验时间

试验步骤如下 a）按4.4规定的抽样原则抽取规定数量的编码器，投入试验过程。 b）监测间隔：可采取连续监测或间断监测的方式，电气信号的监测可采取连续监测，轴系及编码器 准确度的监测可采取间断监测。根据施加应力水平的高低选择测试时间间隔，应力水平低时，间 隔时间长，应力水平高时，间隔时间短，监测数据记录于编码器加速寿命试验运行记录表中。 c）按4.3规定的失效的判定原则判定产生失效的类型并记录于编码器加速寿命试验故障记录表中。 d）发生故障以后，故障前试验时间计为失效寿命。 e）编码器的加速寿命试验按照定时截尾的方式进行，各应力水平下的截尾时间按照表3执行。根 据试验数据，预测编码器伪失效寿命。

公式（9)，对数变换后的加速寿命见公式（10)。

GB∕T 50064-2014 交流电气装置的过电压保护和绝缘配合设计规范Inn= In A++G RH

应用加速寿命，计算出编码器在正常使用条件下的伪失效寿命。根据经验，将编码器正常应 水平下伪失效寿命的2~3倍作为编码器的报废寿命。